Construcao de termopares sobre laminas de silicio para calibracao de fornos rtp (1996)
- Autores:
- Autor USP: SANTOS FILHO, SEBASTIAO GOMES DOS - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: [Resumos]
- Nome do evento: Simposio de Iniciacao Cientifica da Universidade de São Paulo
-
ABNT
PIRES, M O C e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Construcao de termopares sobre laminas de silicio para calibracao de fornos rtp. 1996, Anais.. São Paulo: Usp, 1996. . Acesso em: 20 abr. 2024. -
APA
Pires, M. O. C., & Santos Filho, S. G. dos. (1996). Construcao de termopares sobre laminas de silicio para calibracao de fornos rtp. In [Resumos]. São Paulo: Usp. -
NLM
Pires MOC, Santos Filho SG dos. Construcao de termopares sobre laminas de silicio para calibracao de fornos rtp. [Resumos]. 1996 ;[citado 2024 abr. 20 ] -
Vancouver
Pires MOC, Santos Filho SG dos. Construcao de termopares sobre laminas de silicio para calibracao de fornos rtp. [Resumos]. 1996 ;[citado 2024 abr. 20 ] - Potentiostatic electrodeposition of Au-Sn alloys from a non-cyanide bath for soldering: influence of reagents concentrations
- Influence of the 'SI' / 'SI''O IND.2' interface roughness on electronic roughness
- A practical procedure to match the measured capacitance of low and high frequency in order to obtain the energy distribution of the interface stated density
- Aplicação de filmes de siliceto de titanio e do escoamento térmico rapido de camadas de PSG na fabricação de circuitos integrados nMOS
- Formation and stability of Ni(Pt)Si/Poly-Si layered structure
- Characterization of thin MOS gate oxides grown in pyrogenic environment
- Growth and morphology of electroless cobalt thin films deposited onto palladium pre-activated silicon surfaces
- Simulacao numerica dos perfis de temperatura em fornos rtp
- Engenharia de superfícies e de interfaces aplicada na fabricação de circuitos integrados: cinética da oxidação térmica rápida do silício e deposição eletroquímica de metais
- Morphological characterization of electroless nickel films onto aluminum surfaces
Como citar
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas