Modelamento da refletividade experimental de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h medida por difracao de raios-x (1994)
- Autores:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Sociedade Brasileira de Fisica
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 1994
- Fonte:
- Título do periódico: Resumos
- Nome do evento: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
VELASQUEZ, E L Z e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Modelamento da refletividade experimental de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h medida por difracao de raios-x. 1994, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1994. . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Velasquez, E. L. Z., & Fantini, M. C. de A. (1994). Modelamento da refletividade experimental de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h medida por difracao de raios-x. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica. -
NLM
Velasquez ELZ, Fantini MC de A. Modelamento da refletividade experimental de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h medida por difracao de raios-x. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Velasquez ELZ, Fantini MC de A. Modelamento da refletividade experimental de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h medida por difracao de raios-x. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 19 ] - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
- Propriedades estruturais de filmes eletrocromicos de 'NI''O IND.X'
- Dependencia da tensao mecanica de intercalacao ionica com a estrutura em oxidos de v,'NB' e 'NI'
- Dependencia da tensao mecanica de intercalacao ionica com a estrutura em oxidos de v,'NB' e 'NI'
- Caracterização por difração de raios-x de super-redes de a-'SI': h / a-'GE' : h
- Investigacao sobre a micro-textura de fitas supercondutoras a base de bismuto
- Estudo de corrosao em ligas de 'FE'-'NI' por difracao de raios-x e microscopia optica e eletronica
- Sputtered electrochromic 'NI''O IND.X' thin films: the dependence on the oxygen flux
- Sputtered electrochromic 'NI''O IND.X' thin films: the dependence on the oxygen flux
- Sobre as propriedade estruturais de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel crescidos por rf-sputtering
Como citar
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas