Potential buildup in samples charged by successive low-energy pulses (1994)
- Autores:
- Autores USP: FERREIRA, GUILHERME FONTES LEAL - IFSC ; FIGUEIREDO, MARIANGELA TASSINARI DE - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1109/94.311698
- Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS); DIELÉTRICOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Ieee Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.1 , n.4 , p.563-8, aug. 1994
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
LEAL FERREIRA, Guilherme Fontes e FIGUEIREDO, Mariângela Tassinari de. Potential buildup in samples charged by successive low-energy pulses. Ieee Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, v. 1 , n. 4 , p. 563-8, 1994Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/94.311698. Acesso em: 19 set. 2024. -
APA
Leal Ferreira, G. F., & Figueiredo, M. T. de. (1994). Potential buildup in samples charged by successive low-energy pulses. Ieee Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 1 ( 4 ), 563-8. doi:10.1109/94.311698 -
NLM
Leal Ferreira GF, Figueiredo MT de. Potential buildup in samples charged by successive low-energy pulses [Internet]. Ieee Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation. 1994 ;1 ( 4 ): 563-8.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1109/94.311698 -
Vancouver
Leal Ferreira GF, Figueiredo MT de. Potential buildup in samples charged by successive low-energy pulses [Internet]. Ieee Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation. 1994 ;1 ( 4 ): 563-8.[citado 2024 set. 19 ] Available from: https://doi.org/10.1109/94.311698 - Secondary emission impaired by charge accumulation in dielectrics: the dynamical method
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Informações sobre o DOI: 10.1109/94.311698 (Fonte: oaDOI API)
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