Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: MASCARENHAS, YVONNE PRIMERANO - IFSC ; BASSO, HEITOR CURY - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Fisica
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1994
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
FOSCHINI, C R et al. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. 1994, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1994. . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Foschini, C. R., Pinatti, D. P. F. S., Paullin Filho, P. I., Ferraz, M. C., Basso, H. C., & Mascarenhas, Y. P. (1994). Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica. -
NLM
Foschini CR, Pinatti DPFS, Paullin Filho PI, Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Foschini CR, Pinatti DPFS, Paullin Filho PI, Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 19 ] - Método de Rietveld aplicado ao estudo da reação de formação do 'Y IND. 2''BA''CU''O IND. 5'
- Estudo da cinetica de reacao de formacao do y'BA''CU'o utilizando o metodo de rietveld
- Crescimento e determinacao de estrutura de monocristais de 'BA''CU''O IND.2'
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