Photoluminescence and optical anisotropy of a porous silicon (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: BASMAJI, PIERRE - IFSC ; BAGNATO, VANDERLEI SALVADOR - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Fisica
- Publisher place: Sao Paulo
- Date published: 1994
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
SURDUTOVICH, G I et al. Photoluminescence and optical anisotropy of a porous silicon. 1994, Anais.. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1994. . Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Surdutovich, G. I., Basmaji, P., Vitlina, R. Z., Bagnato, V. S., Kolenda, J., Mohajeri-Moghaddam, H., & Peyghambarian, N. (1994). Photoluminescence and optical anisotropy of a porous silicon. In Resumos. Sao Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica. -
NLM
Surdutovich GI, Basmaji P, Vitlina RZ, Bagnato VS, Kolenda J, Mohajeri-Moghaddam H, Peyghambarian N. Photoluminescence and optical anisotropy of a porous silicon. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 24 ] -
Vancouver
Surdutovich GI, Basmaji P, Vitlina RZ, Bagnato VS, Kolenda J, Mohajeri-Moghaddam H, Peyghambarian N. Photoluminescence and optical anisotropy of a porous silicon. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 24 ] - Polarized light reflectance measurements of the porous films parameters
- Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering
- Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering
- Anisotropy investigations and photoluminescence properties of porous silicon
- Investigation of porous silicon films structure by optical methods
- Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements
- Heteroestruturas 'AL''GA''AS' / 'GA''AS' com mobilidade 390 x'10 POT.3''CENTIMETROS QUADRADOS' / v.S crescidas por mbe
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