Analise por difracao de raios x de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel (1993)
- Autores:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Sociedade Brasileira de Fisica
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 1993
- Fonte:
- Título do periódico: Programa e Resumos
- Nome do evento: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
FARIA, I C et al. Analise por difracao de raios x de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel. 1993, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1993. . Acesso em: 16 abr. 2024. -
APA
Faria, I. C., Gorenstein, A., Cardona, P. S. P., & Fantini, M. C. de A. (1993). Analise por difracao de raios x de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel. In Programa e Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica. -
NLM
Faria IC, Gorenstein A, Cardona PSP, Fantini MC de A. Analise por difracao de raios x de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel. Programa e Resumos. 1993 ;[citado 2024 abr. 16 ] -
Vancouver
Faria IC, Gorenstein A, Cardona PSP, Fantini MC de A. Analise por difracao de raios x de filmes finos eletrocromicos de oxido de niquel. Programa e Resumos. 1993 ;[citado 2024 abr. 16 ] - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
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