Liquid junctions for characterization of electronic materials . I. The potential distribution at the 'SI' / method interface (1989)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1063/1.343203
- Assunto: SILÍCIO
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Journal of Applied Physics
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.65, n.12, p.4884-90, 1989
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu et al. Liquid junctions for characterization of electronic materials . I. The potential distribution at the 'SI' / method interface. Journal of Applied Physics, v. 65, n. 12, p. 4884-90, 1989Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.343203. Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Fantini, M. C. de A., Shen, W. M., Tomkiewicz, M., & Gambino, J. P. (1989). Liquid junctions for characterization of electronic materials . I. The potential distribution at the 'SI' / method interface. Journal of Applied Physics, 65( 12), 4884-90. doi:10.1063/1.343203 -
NLM
Fantini MC de A, Shen WM, Tomkiewicz M, Gambino JP. Liquid junctions for characterization of electronic materials . I. The potential distribution at the 'SI' / method interface [Internet]. Journal of Applied Physics. 1989 ;65( 12): 4884-90.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.343203 -
Vancouver
Fantini MC de A, Shen WM, Tomkiewicz M, Gambino JP. Liquid junctions for characterization of electronic materials . I. The potential distribution at the 'SI' / method interface [Internet]. Journal of Applied Physics. 1989 ;65( 12): 4884-90.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.343203 - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
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Informações sobre o DOI: 10.1063/1.343203 (Fonte: oaDOI API)
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