Estudo da precipitacao do oxigenio em monocristais de 'SI'cz dopado com boro durante o crescimento, por tecnicas de raios-x (1989)
- Autores:
- Autores USP: BULLA, DOUGLAS ANDERSON PEREIRA - IF ; STOJANOFF, VIVIAN - IF
- Unidade: IF
- Assuntos: RAIOS X; OXIGÊNIO
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Sociedade Brasileira de Fisica
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 1989
- Fonte:
- Título do periódico: Programa e Resumos
- Nome do evento: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
BULLA, Douglas Anderson Pereira e STOJANOFF, Vivian. Estudo da precipitacao do oxigenio em monocristais de 'SI'cz dopado com boro durante o crescimento, por tecnicas de raios-x. 1989, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1989. . Acesso em: 16 abr. 2024. -
APA
Bulla, D. A. P., & Stojanoff, V. (1989). Estudo da precipitacao do oxigenio em monocristais de 'SI'cz dopado com boro durante o crescimento, por tecnicas de raios-x. In Programa e Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica. -
NLM
Bulla DAP, Stojanoff V. Estudo da precipitacao do oxigenio em monocristais de 'SI'cz dopado com boro durante o crescimento, por tecnicas de raios-x. Programa e Resumos. 1989 ;[citado 2024 abr. 16 ] -
Vancouver
Bulla DAP, Stojanoff V. Estudo da precipitacao do oxigenio em monocristais de 'SI'cz dopado com boro durante o crescimento, por tecnicas de raios-x. Programa e Resumos. 1989 ;[citado 2024 abr. 16 ] - Estudo da precipitacao do oxigenio em monocristais de silicio cz, por tecnicas de raios-x
- Diffuse x-ray scattering near a bragg reflection of boron doped czochralski silicon
- Efeitos da concentracao de carbono na cinetica da precipitacao do oxigenio em 'SI'cz submetidos a tratamentos termicos
- Effects of heavy boron doping upon oxygen precipitation in czochralski silicon
- Desenvolvimento e caracterização de filmes finos de óxidos de silício e nitreto de silício para a fabricação de guias e sensores ópticos
- Caracterizacao de interfaces por incidencia rasante de raios-x em modo dispersivo
- Efeitos do carbono na formacao de defeitos no silicio czochralski
- Tuneable x-ray polarimeters for synchroton radiation sources
- Defeitos em monocristais de 'SI': B induzidos ou modificados por tratamentos térmicos
- Estudo da cinetica de precipitacao do oxigenio em monocristais de si: b a partir de tecnicas de raios-x
Como citar
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
