Programa de análise de espectro de rbs (1987)
- Autores:
- Autores USP: SWART, JACOBUS WILLIBRORDUS - EP ; ARMANDO ANTONIO MARIA LAGANA - EP
- Unidade: EP
- Assunto: MICROELETRÔNICA
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Sbmicro/Epusp
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 1987
- Fonte:
- Título do periódico: Anais
- Nome do evento: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica
-
ABNT
LAGANÁ, Armando Antonio Maria e FUZETTI, E e SWART, Jacobus Willibrordus. Programa de análise de espectro de rbs. 1987, Anais.. São Paulo: Sbmicro/Epusp, 1987. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Laganá, A. A. M., Fuzetti, E., & Swart, J. W. (1987). Programa de análise de espectro de rbs. In Anais. São Paulo: Sbmicro/Epusp. -
NLM
Laganá AAM, Fuzetti E, Swart JW. Programa de análise de espectro de rbs. Anais. 1987 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Laganá AAM, Fuzetti E, Swart JW. Programa de análise de espectro de rbs. Anais. 1987 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Formação do siliceto de titânio em duas etapas em ambiente de nitrogênio
- Estudo da influencia da taxa de subida de temperatura sobre a rugosidade do siliceto de titanio formado por rtp
- Estudo da cinética de formação do siliceto de titânio
- Formation of nickel monosilicide onto (100) silicon wafer surfaces
- Formacao de siliceto de titanio por rtp: visando a estrutura salicide
- Formação de siliceto de titânio em ambiente de nitrogênio
- Contribuições a uma tecnologia n-mos com carga em depleção e porta metalica, e projeto de uma fonte de autopolarização
- Estudo da cinetica de formacao do siliceto de titanio
- Analise da influencia de impurezas em filmes de 'CO' na formacao do siliceto
- Interconexoes e contatos em circuitos integrados
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