Introducao aos métodos de determinação de estruturas cristalinas por difração de raios-x: complexos de rutenio (1992)
- Autores:
- Autor USP: FONTES, MARCOS ROBERTO DE MATTOS - IFQSC
- Unidade: IFQSC
- Sigla do Departamento: SFI
- Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA; QUÍMICA DE COORDENAÇÃO; QUÍMICA INORGÂNICA
- Idioma: Português
- Resumo: Parte i- descricao teorica suscinta dos fundamentos da cristalografia de raios-x. Parte ii- resolucao de quatro estruturas cristalinas, tres complexos de rutenio e um ligante comumente encontrado em complexos de rutenio, o 'C IND.28''H IND.28''O IND.2''P IND.2'
- Imprenta:
- Local: São Carlos
- Data de publicação: 1992
- Data da defesa: 25.03.1992
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ABNT
FONTES, Marcos Roberto de Mattos. Introducao aos métodos de determinação de estruturas cristalinas por difração de raios-x: complexos de rutenio. 1992. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 1992. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-22052009-115345/. Acesso em: 28 mar. 2024. -
APA
Fontes, M. R. de M. (1992). Introducao aos métodos de determinação de estruturas cristalinas por difração de raios-x: complexos de rutenio (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-22052009-115345/ -
NLM
Fontes MR de M. Introducao aos métodos de determinação de estruturas cristalinas por difração de raios-x: complexos de rutenio [Internet]. 1992 ;[citado 2024 mar. 28 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-22052009-115345/ -
Vancouver
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