Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria (1992)
- Autores:
- Autor USP: BARROS FILHO, DJALMA DE ALBUQUERQUE - IFQSC
- Unidade: IFQSC
- Sigla do Departamento: SFI
- Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA; SUPERFÍCIE FÍSICA; MATÉRIA CONDENSADA
- Idioma: Português
- Resumo: A caracterizacao e um procedimento importante na determinacao das propriedades fisico-quimicas de qualquer material, como por exemplo, filmes finos sol-gel. A tecnica sol-gel torna possivel produzir materiais de natureza diversa (vitreos, ceramicas e cristalinos). O objetivo deste trabalho foi a observacao da evolucao das propriedades oticas e mecanicas de filmes de silica ('SI''O IND.2') durante o processo de densificacao. A analise destas propriedades e realizada nas seguintes etapas: a) evolucao estrutural atraves da medida da espessura; b) analise da porosidade pelo espectro do indice de refracao; c) determinacao das tensoes. A montagem de um microelipsometro que mede retardacoes oticas de filmes finos fez-se necessaria durante o trabalho experimental. A sua calibracao, para obtencao de perfil de tensoes de filmes finos e possivel pela tecnica de elipsometria nula
- Imprenta:
- Local: São Carlos
- Data de publicação: 1992
- Data da defesa: 04.06.1992
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ABNT
BARROS FILHO, Djalma de Albuquerque. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria. 1992. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 1992. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/. Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Barros Filho, D. de A. (1992). Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/ -
NLM
Barros Filho D de A. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria [Internet]. 1992 ;[citado 2024 abr. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/ -
Vancouver
Barros Filho D de A. Caracterização de filmes finos sol-gel por elipsometria [Internet]. 1992 ;[citado 2024 abr. 19 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-19032009-090814/
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