Experimentos de identificação em circuitos digitais (1977)
- Autor:
- Autor USP: DIAS, FRANCISCO JOSE DE OLIVEIRA - EP
- Unidade: EP
- Sigla do Departamento: PEL
- Assunto: CIRCUITOS DIGITAIS
- Language: Português
- Abstract: Essa tese é um estudo do problema de geração de sequências de identificação para circuitos digitais lógicos. Esse método de teste é mais poderoso do que os métodos baseados em modelos de falhas do tipo preso-em-valo lógico. São propostos experimentos de identificação para circuitos sequenciais síncronos e circuitos iterativos lógicos. A metodologia usada é baseada fortemente na analogia entre essas duas estruturas. Dessa maneira, qualquer experimento proposto para a primeira estrutura pode ser aplicado à segunda e vice-versa. No entanto, devido a diferenças entre essas estruturas, é necessário que se faça separadamente a validação desses experimentos como experimentos de identificação. Várias restrições superiores nos comprimentos das sequências de identificação são obtidas. Estas restrições provem indicações para o projeto de circuitos facilmente identificáveis. Dessa maneira, qualquer circuito sequencial síncrono com n estados e m entradas, pode ser realizado de modo a ser identificado por não mais de 4mnlog₂n entradas (à medida em que m e n crescem). Similarmente, uma estrutura iterativa lógica facilmente identificável, pode ser verificada por uma sequência de entradas cujo comprimento é independente de N, o número de células na estrutura.
- Imprenta:
- Data da defesa: 20.07.1977
-
ABNT
DIAS, Francisco José de Oliveira. Experimentos de identificação em circuitos digitais. 1977. Tese (Livre Docência) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1977. . Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Dias, F. J. de O. (1977). Experimentos de identificação em circuitos digitais (Tese (Livre Docência). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Dias FJ de O. Experimentos de identificação em circuitos digitais. 1977 ;[citado 2024 abr. 24 ] -
Vancouver
Dias FJ de O. Experimentos de identificação em circuitos digitais. 1977 ;[citado 2024 abr. 24 ] - Teste e diagnose de falhas
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