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  • Dissertação (Mestrado)

    Aplicações e extensão da técnica de Boundary-scan ao teste de módulos multichip (1996)

    Cossi Junior, Roberto Cangellar; Amazonas, José Roberto de Almeida (Orientador)

    Unidade: EP

    Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA

    Acesso à fonteComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar. Aplicações e extensão da técnica de Boundary-scan ao teste de módulos multichip. 1996. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1996. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-22082024-070145/pt-br.php. Acesso em: 27 nov. 2025.

    • APA

      Cossi Junior, R. C. (1996). Aplicações e extensão da técnica de Boundary-scan ao teste de módulos multichip (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-22082024-070145/pt-br.php

    • NLM

      Cossi Junior RC. Aplicações e extensão da técnica de Boundary-scan ao teste de módulos multichip [Internet]. 1996 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-22082024-070145/pt-br.php

    • Vancouver

      Cossi Junior RC. Aplicações e extensão da técnica de Boundary-scan ao teste de módulos multichip [Internet]. 1996 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-22082024-070145/pt-br.php

  • Artigo de periodico

    Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip (1996)

    Cossi Junior, Roberto Cangellar; Amazonas, José Roberto de Almeida

    Fonte: Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    Versão PublicadaComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar e AMAZONAS, José Roberto de Almeida. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, n. 14, 1996Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.

    • APA

      Cossi Junior, R. C., & Amazonas, J. R. de A. (1996). Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica, (14). Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf

    • NLM

      Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf

    • Vancouver

      Cossi Junior RC, Amazonas JR de A. Aplicações do boundary-scan para o teste de modulos multichip [Internet]. Boletim Tecnico da Escola Politecnica da Usp. Departamento de Engenharia Eletronica. 1996 ;(14):[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aeea7e19-401c-46cb-8ebf-8cb982577f2d/BT-PEE-96_14_251022_113206.pdf
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