Filtros : "Hoashi, Paulo Tetsuo" Limpar

Filtros



Refine with date range


  • Source: Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      HOASHI, Paulo Tetsuo e MARTINO, João Antonio. Difference between kink and bipolar parasitic effects in thin film SOI MOSFET. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Tradução . Pennington: The Electrochemical Society, 2002. . . Acesso em: 01 dez. 2025.
    • APA

      Hoashi, P. T., & Martino, J. A. (2002). Difference between kink and bipolar parasitic effects in thin film SOI MOSFET. In Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Pennington: The Electrochemical Society.
    • NLM

      Hoashi PT, Martino JA. Difference between kink and bipolar parasitic effects in thin film SOI MOSFET. In: Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Pennington: The Electrochemical Society; 2002. [citado 2025 dez. 01 ]
    • Vancouver

      Hoashi PT, Martino JA. Difference between kink and bipolar parasitic effects in thin film SOI MOSFET. In: Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Pennington: The Electrochemical Society; 2002. [citado 2025 dez. 01 ]
  • Unidade: EP

    Assunto: TRANSISTORES

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      HOASHI, Paulo Tetsuo. Caracterização elétrica e simulação do transistor SOI MOSFET de porta gêmea. 2000. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2000. Disponível em: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19112024-095421/pt-br.php. Acesso em: 01 dez. 2025.
    • APA

      Hoashi, P. T. (2000). Caracterização elétrica e simulação do transistor SOI MOSFET de porta gêmea (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19112024-095421/pt-br.php
    • NLM

      Hoashi PT. Caracterização elétrica e simulação do transistor SOI MOSFET de porta gêmea [Internet]. 2000 ;[citado 2025 dez. 01 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19112024-095421/pt-br.php
    • Vancouver

      Hoashi PT. Caracterização elétrica e simulação do transistor SOI MOSFET de porta gêmea [Internet]. 2000 ;[citado 2025 dez. 01 ] Available from: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-19112024-095421/pt-br.php

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2025