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Artigo de periodico
Thickness-dependent terahertz permittivity of epitaxially grown 'PB''TE' thin films (2023)
Kawahala, Nícolas Massarico ; Matos, Daniel Alves ; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo; Baydin, Andrey; Kono, Junichiro; Gonzalez Hernandez, Felix Guillermo
Fonte: Coatings. Unidade: IF
Assuntos: ESPECTROSCOPIA, CONDUTIVIDADE ELÉTRICA
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ABNT
KAWAHALA, Nícolas Massarico et al. Thickness-dependent terahertz permittivity of epitaxially grown 'PB''TE' thin films. Coatings, v. No 2023, n. 11, p. 1855, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.3390/coatings13111855. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Kawahala, N. M., Matos, D. A., Rappl, P. H. O., Abramof, E., Baydin, A., Kono, J., & Gonzalez Hernandez, F. G. (2023). Thickness-dependent terahertz permittivity of epitaxially grown 'PB''TE' thin films. Coatings, No 2023( 11), 1855. doi:10.3390/coatings13111855
NLM
Kawahala NM, Matos DA, Rappl PHO, Abramof E, Baydin A, Kono J, Gonzalez Hernandez FG. Thickness-dependent terahertz permittivity of epitaxially grown 'PB''TE' thin films [Internet]. Coatings. 2023 ; No 2023( 11): 1855.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.3390/coatings13111855
Vancouver
Kawahala NM, Matos DA, Rappl PHO, Abramof E, Baydin A, Kono J, Gonzalez Hernandez FG. Thickness-dependent terahertz permittivity of epitaxially grown 'PB''TE' thin films [Internet]. Coatings. 2023 ; No 2023( 11): 1855.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.3390/coatings13111855
Artigo de periodico
Bound photoinduced giant spin polaron in EuTe (2022)
Henriques, André Bohomoletz ; Kooten, Sjoerd Van ; Abramof, Eduardo ; Rappl, P.H.O. ; Galgano, Giovanni Decot
Fonte: Journal of Applied Physics. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICO-QUÍMICA, SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA), FOTOLUMINESCÊNCIA, ESPECTROSCOPIA DA LUZ, SPIN, POLARIZAÇÃO, MÉTODO DE MONTE CARLO
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ABNT
HENRIQUES, André Bohomoletz et al. Bound photoinduced giant spin polaron in EuTe. Journal of Applied Physics, v. 131, n. 4, 2022Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/5.0079384. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Henriques, A. B., Kooten, S. V., Abramof, E., Rappl, P. H. O., & Galgano, G. D. (2022). Bound photoinduced giant spin polaron in EuTe. Journal of Applied Physics, 131( 4). doi:10.1063/5.0079384
NLM
Henriques AB, Kooten SV, Abramof E, Rappl PHO, Galgano GD. Bound photoinduced giant spin polaron in EuTe [Internet]. Journal of Applied Physics. 2022 ; 131( 4):[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0079384
Vancouver
Henriques AB, Kooten SV, Abramof E, Rappl PHO, Galgano GD. Bound photoinduced giant spin polaron in EuTe [Internet]. Journal of Applied Physics. 2022 ; 131( 4):[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/5.0079384
Relatorio tecnico
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films (2020)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Unidade: IF
Assuntos: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
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ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. . Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025. , 2020
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2020). Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Melville: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
NLM
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2007.15042.pdf
Relatorio tecnico
Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2020)
Fornari, Celso I; Abramof, Eduardo; Rappl, Paulo H O; Kycia, Stefan W; Morelhão, Sérgio Luiz
Unidade: IF
Assuntos: FILMES FINOS, BISMUTO
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ABNT
FORNARI, Celso I et al. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025. , 2020
APA
Fornari, C. I., Abramof, E., Rappl, P. H. O., Kycia, S. W., & Morelhão, S. L. (2020). Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
NLM
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Vancouver
Fornari CI, Abramof E, Rappl PHO, Kycia SW, Morelhão SL. Morphology Control in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. 2020 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2008/2008.02180.pdf
Artigo de periodico
Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators (2019)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Kycia, Stefan W.; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Fonte: The Journal of Physical Chemistry C. Unidade: IF
Assuntos: RADIAÇÃO SINCROTRON, SEMICONDUTORES (FÍSICO-QUÍMICA), MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR, CRISTALOGRAFIA, BISMUTO
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ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. The Journal of Physical Chemistry C, v. 123, n. 40, p. 24818-24825, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S. W., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2019). Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators. The Journal of Physical Chemistry C, 123( 40), 24818-24825. doi:10.1021/acs.jpcc.9b05377
NLM
Morelhão SL, Kycia SW, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. The Journal of Physical Chemistry C. 2019 ; 123( 40): 24818-24825.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377
Vancouver
Morelhão SL, Kycia SW, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Dynamics of Defects in van der Waals Epitaxy of Bismuth Telluride Topological Insulators [Internet]. The Journal of Physical Chemistry C. 2019 ; 123( 40): 24818-24825.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi-org.ez67.periodicos.capes.gov.br/10.1021/acs.jpcc.9b05377
Relatorio tecnico
X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films (2018)
Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo; Morelhão, Sérgio Luiz
Unidade: IF
Assuntos: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
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ABNT
KYCIA, Stefan et al. X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/abs/1812.10804. Acesso em: 27 nov. 2025. , 2018
APA
Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., Abramof, E., & Morelhão, S. L. (2018). X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/abs/1812.10804
NLM
Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E, Morelhão SL. X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2018 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1812.10804
Vancouver
Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E, Morelhão SL. X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films [Internet]. 2018 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/abs/1812.10804
Artigo de periodico
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films (2018)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Kycia, Stefan; Netzke, Samuel; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Fonte: Applied Physics Letters. Unidade: IF
Assuntos: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, SEMICONDUTORES, CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X
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ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Applied Physics Letters, v. 112, n. 12, p. 101903, 2018Tradução . . Disponível em: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Morelhão, S. L., Kycia, S., Netzke, S., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2018). Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films. Applied Physics Letters, 112( 12), 101903. doi:10.1063/1.5020375
NLM
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. Applied Physics Letters. 2018 ; 112( 12): 101903.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375
Vancouver
Morelhão SL, Kycia S, Netzke S, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films [Internet]. Applied Physics Letters. 2018 ; 112( 12): 101903.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5020375
Artigo de periodico
Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis (2017)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Fornari, Celso I; Rappl, Paulo Henrique de Oliveira; Abramof, Eduardo
Fonte: Journal of Applied Crystallography. Unidade: IF
Assuntos: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis. Journal of Applied Crystallography, v. 50, n. 2, p. 399-410, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1107/S1600576717000760. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Morelhão, S. L., Fornari, C. I., Rappl, P. H. de O., & Abramof, E. (2017). Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis. Journal of Applied Crystallography, 50( 2), 399-410. doi:10.1107/S1600576717000760
NLM
Morelhão SL, Fornari CI, Rappl PH de O, Abramof E. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2017 ; 50( 2): 399-410.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576717000760
Vancouver
Morelhão SL, Fornari CI, Rappl PH de O, Abramof E. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis [Internet]. Journal of Applied Crystallography. 2017 ; 50( 2): 399-410.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1107/S1600576717000760
Artigo de periodico
Photoinduced giant magnetic polarons in 'EU''TE' (2017)
Henriques, André Bohomoletz ; Naupa Roque, Alexander Raul; Usachev, P A; Pavlov, V V; Rappl, P H O; Abramof, Eduardo
Fonte: Physical Review B. Unidade: IF
Assuntos: SEMICONDUTORES, MAGNETISMO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HENRIQUES, André Bohomoletz et al. Photoinduced giant magnetic polarons in 'EU''TE'. Physical Review B, v. 95, n. 4, p. 045205/1-045205/7, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.95.045205. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Henriques, A. B., Naupa Roque, A. R., Usachev, P. A., Pavlov, V. V., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2017). Photoinduced giant magnetic polarons in 'EU''TE'. Physical Review B, 95( 4), 045205/1-045205/7. doi:10.1103/PhysRevB.95.045205
NLM
Henriques AB, Naupa Roque AR, Usachev PA, Pavlov VV, Rappl PHO, Abramof E. Photoinduced giant magnetic polarons in 'EU''TE' [Internet]. Physical Review B. 2017 ; 95( 4): 045205/1-045205/7.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.95.045205
Vancouver
Henriques AB, Naupa Roque AR, Usachev PA, Pavlov VV, Rappl PHO, Abramof E. Photoinduced giant magnetic polarons in 'EU''TE' [Internet]. Physical Review B. 2017 ; 95( 4): 045205/1-045205/7.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.95.045205
Artigo de periodico
Structural properties of 'BI' IND. 2''TE' IND. 3' topological insulator thin films grown by molecular beam epitaxy on (111) 'BA''F' IND. 2' substrates (2016)
Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo; Morelhão, Sérgio Luiz
Fonte: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. Unidade: IF
Assuntos: SEMICONDUTORES, RAIOS X
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ABNT
FORNARI, Celso I. et al. Structural properties of 'BI' IND. 2''TE' IND. 3' topological insulator thin films grown by molecular beam epitaxy on (111) 'BA''F' IND. 2' substrates. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, v. 119, n. 16, p. 165303, 2016Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4947266. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., Abramof, E., & Morelhão, S. L. (2016). Structural properties of 'BI' IND. 2''TE' IND. 3' topological insulator thin films grown by molecular beam epitaxy on (111) 'BA''F' IND. 2' substrates. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 119( 16), 165303. doi:10.1063/1.4947266
NLM
Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E, Morelhão SL. Structural properties of 'BI' IND. 2''TE' IND. 3' topological insulator thin films grown by molecular beam epitaxy on (111) 'BA''F' IND. 2' substrates [Internet]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2016 ; 119( 16): 165303.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4947266
Vancouver
Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E, Morelhão SL. Structural properties of 'BI' IND. 2''TE' IND. 3' topological insulator thin films grown by molecular beam epitaxy on (111) 'BA''F' IND. 2' substrates [Internet]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2016 ; 119( 16): 165303.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4947266
Relatorio tecnico
Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxic layers by advanced X-ray analysis (2016)
Morelhão, Sérgio Luiz ; Fornari, Celso I.; Rappl, Paulo H. O.; Abramof, Eduardo
Unidade: IF
Assuntos: SEMICONDUTORES, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MORELHÃO, Sérgio Luiz et al. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxic layers by advanced X-ray analysis. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/1612.09386.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025. , 2016
APA
Morelhão, S. L., Fornari, C. I., Rappl, P. H. O., & Abramof, E. (2016). Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxic layers by advanced X-ray analysis. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/1612.09386.pdf
NLM
Morelhão SL, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxic layers by advanced X-ray analysis [Internet]. 2016 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/1612.09386.pdf
Vancouver
Morelhão SL, Fornari CI, Rappl PHO, Abramof E. Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxic layers by advanced X-ray analysis [Internet]. 2016 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/1612.09386.pdf
Trabalho de evento-resumo
Electrical investigation on band inversion of 'PB' IND. 1- x' 'SN' IND. x' 'TE' films (2014)
Silva, Matheus José da S; Castro, Suelen de; Soares, Demetrio Artur Werner; Peres, Marcelos Lima; Rappl, Paulo Henrique de Oliveira; Abramof, Eduardo; Chitta, Valmir Antonio
Fonte: SBF. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, TOPOLOGIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVA, Matheus José da S et al. Electrical investigation on band inversion of 'PB' IND. 1- x' 'SN' IND. x' 'TE' films. 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0989-1.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Silva, M. J. da S., Castro, S. de, Soares, D. A. W., Peres, M. L., Rappl, P. H. de O., Abramof, E., & Chitta, V. A. (2014). Electrical investigation on band inversion of 'PB' IND. 1- x' 'SN' IND. x' 'TE' films. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0989-1.pdf
NLM
Silva MJ da S, Castro S de, Soares DAW, Peres ML, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Electrical investigation on band inversion of 'PB' IND. 1- x' 'SN' IND. x' 'TE' films [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0989-1.pdf
Vancouver
Silva MJ da S, Castro S de, Soares DAW, Peres ML, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Electrical investigation on band inversion of 'PB' IND. 1- x' 'SN' IND. x' 'TE' films [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0989-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Electrical transport mesurements on 'BI' IND. 2' 'TE' IND. 3' topological insulator (2014)
Peres, Marcelos Lima; Castro, Suelen de; Soares, Demetrio A. W.; Rappl, Paulo Henrique de O.; Abramof, Eduardo; Chitta, Valmir Antonio
Fonte: SBF. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, SPINTRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PERES, Marcelos Lima et al. Electrical transport mesurements on 'BI' IND. 2' 'TE' IND. 3' topological insulator. 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0942-1.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Peres, M. L., Castro, S. de, Soares, D. A. W., Rappl, P. H. de O., Abramof, E., & Chitta, V. A. (2014). Electrical transport mesurements on 'BI' IND. 2' 'TE' IND. 3' topological insulator. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0942-1.pdf
NLM
Peres ML, Castro S de, Soares DAW, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Electrical transport mesurements on 'BI' IND. 2' 'TE' IND. 3' topological insulator [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0942-1.pdf
Vancouver
Peres ML, Castro S de, Soares DAW, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Electrical transport mesurements on 'BI' IND. 2' 'TE' IND. 3' topological insulator [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0942-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Photoconductivity kinetics in p-type 'PB''TE':'BA'F IND. 2' (2014)
Castro, Suelen de; Soares, Demétrio Artur Werner; Peres, Marcelos Lima; Rappl, Paulo Henrique de Oliveira; Abramof, Eduardo; Chitta, Valmir Antonio
Fonte: SBF. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, FOTOCONDUTIVIDADE
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CASTRO, Suelen de et al. Photoconductivity kinetics in p-type 'PB''TE':'BA'F IND. 2'. 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0961-1.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Castro, S. de, Soares, D. A. W., Peres, M. L., Rappl, P. H. de O., Abramof, E., & Chitta, V. A. (2014). Photoconductivity kinetics in p-type 'PB''TE':'BA'F IND. 2'. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0961-1.pdf
NLM
Castro S de, Soares DAW, Peres ML, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Photoconductivity kinetics in p-type 'PB''TE':'BA'F IND. 2' [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0961-1.pdf
Vancouver
Castro S de, Soares DAW, Peres ML, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Photoconductivity kinetics in p-type 'PB''TE':'BA'F IND. 2' [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxvii/sys/resumos/R0961-1.pdf
Artigo de periodico
Conduction mechanisms in p-type 'PB' IND. 1−x''EU' IND. x''TE' alloys in the insulator regime (2012)
Peres, M L; Rubinger, Rero Marques; Ribeiro, L H; Rubinger, Carla Patricia Lacerda; Ribeiro, G M; Rappl, Paulo Henrique de Oliveira ; Abramof, Eduardo ; Chitta, Valmir Antonio
Fonte: Journal of Applied Physics. Unidade: IF
Assunto: ALTA TEMPERATURA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PERES, M L et al. Conduction mechanisms in p-type 'PB' IND. 1−x''EU' IND. x''TE' alloys in the insulator regime. Journal of Applied Physics, v. 111, n. ju2012, p. 123708, 2012Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4729813. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Peres, M. L., Rubinger, R. M., Ribeiro, L. H., Rubinger, C. P. L., Ribeiro, G. M., Rappl, P. H. de O., et al. (2012). Conduction mechanisms in p-type 'PB' IND. 1−x''EU' IND. x''TE' alloys in the insulator regime. Journal of Applied Physics, 111( ju2012), 123708. doi:10.1063/1.4729813
NLM
Peres ML, Rubinger RM, Ribeiro LH, Rubinger CPL, Ribeiro GM, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Conduction mechanisms in p-type 'PB' IND. 1−x''EU' IND. x''TE' alloys in the insulator regime [Internet]. Journal of Applied Physics. 2012 ;111( ju2012): 123708.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4729813
Vancouver
Peres ML, Rubinger RM, Ribeiro LH, Rubinger CPL, Ribeiro GM, Rappl PH de O, Abramof E, Chitta VA. Conduction mechanisms in p-type 'PB' IND. 1−x''EU' IND. x''TE' alloys in the insulator regime [Internet]. Journal of Applied Physics. 2012 ;111( ju2012): 123708.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4729813
Trabalho de evento-resumo
Structural and magnetic characterization of c-GaN implanted with Fe, Mn and Cu ions (2012)
Righetti, Victor Augusto Nieto; Chitta, Valmir Antonio ; Gratens, Xavier Pierre Marie ; Abramof, Eduardo ; Godoy, M. P. F. de; Lischka, Klaus; As, Donat Joseph; Schikora, D.
Fonte: Resumo. Nome do evento: XXXV Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, ÍONS
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ABNT
RIGHETTI, Victor Augusto Nieto et al. Structural and magnetic characterization of c-GaN implanted with Fe, Mn and Cu ions. 2012, Anais.. Águas de Lindóia: SBF, 2012. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0422-1.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Righetti, V. A. N., Chitta, V. A., Gratens, X. P. M., Abramof, E., Godoy, M. P. F. de, Lischka, K., et al. (2012). Structural and magnetic characterization of c-GaN implanted with Fe, Mn and Cu ions. In Resumo. Águas de Lindóia: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0422-1.pdf
NLM
Righetti VAN, Chitta VA, Gratens XPM, Abramof E, Godoy MPF de, Lischka K, As DJ, Schikora D. Structural and magnetic characterization of c-GaN implanted with Fe, Mn and Cu ions [Internet]. Resumo. 2012 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0422-1.pdf
Vancouver
Righetti VAN, Chitta VA, Gratens XPM, Abramof E, Godoy MPF de, Lischka K, As DJ, Schikora D. Structural and magnetic characterization of c-GaN implanted with Fe, Mn and Cu ions [Internet]. Resumo. 2012 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0422-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Light-induced magnetism using picosecond and femtosecond pulses in semiconductor nanostructures (2012)
Honda, Bruno Silveira de Lima; Henriques, André Bohomoletz ; Maia, A. D. B.; Quivy, Alain André ; Abramof, Eduardo ; Rappl, Paulo Henrique de Oliveira
Fonte: Resumo. Nome do evento: XXXV Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assuntos: MAGNETISMO, NANOTECNOLOGIA
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ABNT
HONDA, Bruno Silveira de Lima et al. Light-induced magnetism using picosecond and femtosecond pulses in semiconductor nanostructures. 2012, Anais.. Águas de Lindóia: SBF, 2012. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0687-1.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Honda, B. S. de L., Henriques, A. B., Maia, A. D. B., Quivy, A. A., Abramof, E., & Rappl, P. H. de O. (2012). Light-induced magnetism using picosecond and femtosecond pulses in semiconductor nanostructures. In Resumo. Águas de Lindóia: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0687-1.pdf
NLM
Honda BS de L, Henriques AB, Maia ADB, Quivy AA, Abramof E, Rappl PH de O. Light-induced magnetism using picosecond and femtosecond pulses in semiconductor nanostructures [Internet]. Resumo. 2012 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0687-1.pdf
Vancouver
Honda BS de L, Henriques AB, Maia ADB, Quivy AA, Abramof E, Rappl PH de O. Light-induced magnetism using picosecond and femtosecond pulses in semiconductor nanostructures [Internet]. Resumo. 2012 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0687-1.pdf
Artigo de periodico
Spin–orbit coupling in n-type PbTe/PbEuTe quantum wells (2011)
Peres, M L; Chitta, Valmir Antonio ; Maude, D K; Oliveira Jr., N. F.; Rappl, Paulo Henrique de Oliveira ; Ueta, A Y; Abramof, Eduardo
Fonte: Acta Physica Polonica A. Nome do evento: “Jaszowiec” International School and Conference on the Physics of Semiconductors. Unidade: IF
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
PERES, M L et al. Spin–orbit coupling in n-type PbTe/PbEuTe quantum wells. Acta Physica Polonica A, v. 119, p. 602, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.12693/APhysPolA.119.602. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Peres, M. L., Chitta, V. A., Maude, D. K., Oliveira Jr., N. F., Rappl, P. H. de O., Ueta, A. Y., & Abramof, E. (2011). Spin–orbit coupling in n-type PbTe/PbEuTe quantum wells. Acta Physica Polonica A, 119, 602. doi:10.12693/APhysPolA.119.602
NLM
Peres ML, Chitta VA, Maude DK, Oliveira Jr. NF, Rappl PH de O, Ueta AY, Abramof E. Spin–orbit coupling in n-type PbTe/PbEuTe quantum wells [Internet]. Acta Physica Polonica A. 2011 ;119 602.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.12693/APhysPolA.119.602
Vancouver
Peres ML, Chitta VA, Maude DK, Oliveira Jr. NF, Rappl PH de O, Ueta AY, Abramof E. Spin–orbit coupling in n-type PbTe/PbEuTe quantum wells [Internet]. Acta Physica Polonica A. 2011 ;119 602.[citado 2025 nov. 27 ] Available from: https://doi.org/10.12693/APhysPolA.119.602
Trabalho de evento-anais periodico
Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction (2009)
Freitas, Raul de Oliveira; Diaz, Beatriz; Abramof, Eduardo; Quivy, Alain André ; Morelhão, Sérgio Luiz
Fonte: Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Nome do evento: Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging. Unidade: IF
Assuntos: POÇOS QUÂNTICOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
FREITAS, Raul de Oliveira et al. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Disponível em: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART. Acesso em: 27 nov. 2025. , 2009
APA
Freitas, R. de O., Diaz, B., Abramof, E., Quivy, A. A., & Morelhão, S. L. (2009). Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. Weinheim: Wiley-VCH Verlag. Recuperado de http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART
NLM
Freitas R de O, Diaz B, Abramof E, Quivy AA, Morelhão SL. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction [Internet]. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. 2009 ; 206( 8):[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART
Vancouver
Freitas R de O, Diaz B, Abramof E, Quivy AA, Morelhão SL. Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction [Internet]. Physica Status Solidi A - Applications and Materials Science. 2009 ; 206( 8):[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122462600/PDFSTART
Trabalho de evento-resumo
Transport and structural properties of SnTe flims grown by molecular beam (2006)
Abramof, Eduardo; Chitta, Valmir Antonio ; Rappl, Paulo Henrique de Oliveira; Mengui, Úrsula Andréia; Yukio, Antonio; Oliveira Jr., N. F.
Fonte: Poster Sessions Abstracts Index : Symposium D. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IF
Assuntos: MATERIAIS (PESQUISA), EPITAXIA POR FEIXE MOLECULAR
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ABRAMOF, Eduardo et al. Transport and structural properties of SnTe flims grown by molecular beam. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterD.pdf. Acesso em: 27 nov. 2025.
APA
Abramof, E., Chitta, V. A., Rappl, P. H. de O., Mengui, Ú. A., Yukio, A., & Oliveira Jr., N. F. (2006). Transport and structural properties of SnTe flims grown by molecular beam. In Poster Sessions Abstracts Index : Symposium D. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterD.pdf
NLM
Abramof E, Chitta VA, Rappl PH de O, Mengui ÚA, Yukio A, Oliveira Jr. NF. Transport and structural properties of SnTe flims grown by molecular beam [Internet]. Poster Sessions Abstracts Index : Symposium D. 2006 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterD.pdf
Vancouver
Abramof E, Chitta VA, Rappl PH de O, Mengui ÚA, Yukio A, Oliveira Jr. NF. Transport and structural properties of SnTe flims grown by molecular beam [Internet]. Poster Sessions Abstracts Index : Symposium D. 2006 ;[citado 2025 nov. 27 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterD.pdf

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