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  • Unidade: EP

    Subjects: TRANSISTORES, SILÍCIO, DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS, MEDIDAS ELÉTRICAS

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    • ABNT

      DORIA, Renan Trevisoli. Operação e modelagem de transistores MOS sem junções. 2013. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2013. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01082013-162413/. Acesso em: 10 out. 2024.
    • APA

      Doria, R. T. (2013). Operação e modelagem de transistores MOS sem junções (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01082013-162413/
    • NLM

      Doria RT. Operação e modelagem de transistores MOS sem junções [Internet]. 2013 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01082013-162413/
    • Vancouver

      Doria RT. Operação e modelagem de transistores MOS sem junções [Internet]. 2013 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-01082013-162413/
  • Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      TREVISOLI, Renan et al. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst. Acesso em: 10 out. 2024.
    • APA

      Trevisoli, R., Doria, R. T., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0207ecst
    • NLM

      Trevisoli R, Doria RT, Souza M de, Pavanello MA. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst
    • Vancouver

      Trevisoli R, Doria RT, Souza M de, Pavanello MA. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst
  • Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MARINIELLO, Genaro et al. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst. Acesso em: 10 out. 2024.
    • APA

      Mariniello, G., Doria, R. T., Trevisoli, R., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0231ecst
    • NLM

      Mariniello G, Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst
    • Vancouver

      Mariniello G, Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst
  • Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      DORIA, Rodrigo Trevisoli et al. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst. Acesso em: 10 out. 2024.
    • APA

      Doria, R. T., Trevisoli, R., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0215ecst
    • NLM

      Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst
    • Vancouver

      Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 10 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst

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