Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Química Analítica (ENQA). Unidade: IQSC
Subjects: QUÍMICA ANALÍTICA, MICROSCOPIA
ABNT
LIMA, Renato S. et al. Caracterização de processos de silanização em superfície de Si'O IND.2' por MEV e XPS para construção de biossensores. 2009, Anais.. Salvador: [s. n.], 2009. . Acesso em: 09 ago. 2024.APA
Lima, R. S., Rodrigues Filho, U. P., Nascente, P. A. P., Coltro, W. K. T., & Carrilho, E. (2009). Caracterização de processos de silanização em superfície de Si'O IND.2' por MEV e XPS para construção de biossensores. In Resumos. Salvador: [s. n.].NLM
Lima RS, Rodrigues Filho UP, Nascente PAP, Coltro WKT, Carrilho E. Caracterização de processos de silanização em superfície de Si'O IND.2' por MEV e XPS para construção de biossensores. Resumos. 2009 ;( [s.]):[citado 2024 ago. 09 ]Vancouver
Lima RS, Rodrigues Filho UP, Nascente PAP, Coltro WKT, Carrilho E. Caracterização de processos de silanização em superfície de Si'O IND.2' por MEV e XPS para construção de biossensores. Resumos. 2009 ;( [s.]):[citado 2024 ago. 09 ]