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Artigo de periodico
SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale (2025)
Cassimiro, Vinicius R S ; Cunha Júnior, Rubens M; Rehder, Gustavo P ; Pereyra, Inés ; Carreño, Marcelo N P ; Alayo, Marco I. ; Trcera, Nicolas ; Scopel, Wanderla L ; Pérez, Carlos A. ; Rodrigues, Cleber L. ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu
Fonte: ECS Journal of Solid State Science and Technology. Unidades: EP, IF
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
CASSIMIRO, Vinicius R S et al. SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale. ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2025Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Cassimiro, V. R. S., Cunha Júnior, R. M., Rehder, G. P., Pereyra, I., Carreño, M. N. P., Alayo, M. I., et al. (2025). SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale. ECS Journal of Solid State Science and Technology. doi:https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1
NLM
Cassimiro VRS, Cunha Júnior RM, Rehder GP, Pereyra I, Carreño MNP, Alayo MI, Trcera N, Scopel WL, Pérez CA, Rodrigues CL, Fantini MC de A. SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale [Internet]. ECS Journal of Solid State Science and Technology. 2025 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1
Vancouver
Cassimiro VRS, Cunha Júnior RM, Rehder GP, Pereyra I, Carreño MNP, Alayo MI, Trcera N, Scopel WL, Pérez CA, Rodrigues CL, Fantini MC de A. SiC Structural Analysis on Energized Microlamps in Micrometric Scale [Internet]. ECS Journal of Solid State Science and Technology. 2025 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/2162-8777/adc2d1
Artigo de periodico
Low-cost laser for fabrication of affordable graphene-induced microband sensors (2024)
Ribeiro, Leonardo Marquez Alves; Feria, Deissy Johanna; Falcoswki, Paula Calli ; Carreño, Marcelo Nelson Paez ; Pereyra, Inés ; Bertotti, Mauro
Fonte: Journal of Applied Electrochemistry. Unidades: EP, IQ
Assuntos: ESPECTROSCOPIA RAMAN, MICROSCOPIA
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ABNT
RIBEIRO, Leonardo Marquez Alves et al. Low-cost laser for fabrication of affordable graphene-induced microband sensors. Journal of Applied Electrochemistry, v. 54, p. 2845-2854, 2024Tradução . . Disponível em: https://dx.doi.org/10.1007/s10800-024-02132-w. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Ribeiro, L. M. A., Feria, D. J., Falcoswki, P. C., Carreño, M. N. P., Pereyra, I., & Bertotti, M. (2024). Low-cost laser for fabrication of affordable graphene-induced microband sensors. Journal of Applied Electrochemistry, 54, 2845-2854. doi:10.1007/s10800-024-02132-w
NLM
Ribeiro LMA, Feria DJ, Falcoswki PC, Carreño MNP, Pereyra I, Bertotti M. Low-cost laser for fabrication of affordable graphene-induced microband sensors [Internet]. Journal of Applied Electrochemistry. 2024 ; 54 2845-2854.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://dx.doi.org/10.1007/s10800-024-02132-w
Vancouver
Ribeiro LMA, Feria DJ, Falcoswki PC, Carreño MNP, Pereyra I, Bertotti M. Low-cost laser for fabrication of affordable graphene-induced microband sensors [Internet]. Journal of Applied Electrochemistry. 2024 ; 54 2845-2854.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://dx.doi.org/10.1007/s10800-024-02132-w
Artigo de periodico
Fabrication of fluorescent PMMA-carbon nanodots optical films and their feasibility in improving solar cells efficiency using low-cost sustainable materials (2023)
Soares, Marco C P ; Carreño, Marcelo Nelson Paez ; Pereyra, Inés ; Ramos, Carlos A. S.; Cid Sánchez, Manuel ; Goveia, Gilson Schaberle ; Chubaci, José Fernando Diniz
Fonte: Brazilian Journal of Chemical Engineering. Unidades: EP, IF
Assunto: FLUORESCÊNCIA
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ABNT
SOARES, Marco C P et al. Fabrication of fluorescent PMMA-carbon nanodots optical films and their feasibility in improving solar cells efficiency using low-cost sustainable materials. Brazilian Journal of Chemical Engineering, 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s43153-023-00408-w. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Soares, M. C. P., Carreño, M. N. P., Pereyra, I., Ramos, C. A. S., Cid Sánchez, M., Goveia, G. S., & Chubaci, J. F. D. (2023). Fabrication of fluorescent PMMA-carbon nanodots optical films and their feasibility in improving solar cells efficiency using low-cost sustainable materials. Brazilian Journal of Chemical Engineering. doi:10.1007/s43153-023-00408-w
NLM
Soares MCP, Carreño MNP, Pereyra I, Ramos CAS, Cid Sánchez M, Goveia GS, Chubaci JFD. Fabrication of fluorescent PMMA-carbon nanodots optical films and their feasibility in improving solar cells efficiency using low-cost sustainable materials [Internet]. Brazilian Journal of Chemical Engineering. 2023 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s43153-023-00408-w
Vancouver
Soares MCP, Carreño MNP, Pereyra I, Ramos CAS, Cid Sánchez M, Goveia GS, Chubaci JFD. Fabrication of fluorescent PMMA-carbon nanodots optical films and their feasibility in improving solar cells efficiency using low-cost sustainable materials [Internet]. Brazilian Journal of Chemical Engineering. 2023 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s43153-023-00408-w
Artigo de periodico
Bioinspired Antimicrobial PLA with Nanocones on the Surface for Rapid Deactivation of Omicron SARS-CoV-2 (2023)
Silva, Daniel José da ; Duran, Adriana; Cabral, Aline D.; Fonseca, Fernando Luiz Affonso ; Hui,Wang Shu ; Parra, Duclerc Fernandes ; Bueno, Rodrigo F; Pereyra, Inés ; Rosa, Derval S
Fonte: ACS Biomaterials Science & Engineering. Unidade: EP
Assuntos: COBRE, SUPERFÍCIES
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ABNT
SILVA, Daniel José da et al. Bioinspired Antimicrobial PLA with Nanocones on the Surface for Rapid Deactivation of Omicron SARS-CoV-2. ACS Biomaterials Science & Engineering, p. 9 , 2023Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acsbiomaterials.2c01529. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Silva, D. J. da, Duran, A., Cabral, A. D., Fonseca, F. L. A., Hui, W. S., Parra, D. F., et al. (2023). Bioinspired Antimicrobial PLA with Nanocones on the Surface for Rapid Deactivation of Omicron SARS-CoV-2. ACS Biomaterials Science & Engineering, 9 . doi:10.1021/acsbiomaterials.2c01529
NLM
Silva DJ da, Duran A, Cabral AD, Fonseca FLA, Hui WS, Parra DF, Bueno RF, Pereyra I, Rosa DS. Bioinspired Antimicrobial PLA with Nanocones on the Surface for Rapid Deactivation of Omicron SARS-CoV-2 [Internet]. ACS Biomaterials Science & Engineering. 2023 ;9 .[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acsbiomaterials.2c01529
Vancouver
Silva DJ da, Duran A, Cabral AD, Fonseca FLA, Hui WS, Parra DF, Bueno RF, Pereyra I, Rosa DS. Bioinspired Antimicrobial PLA with Nanocones on the Surface for Rapid Deactivation of Omicron SARS-CoV-2 [Internet]. ACS Biomaterials Science & Engineering. 2023 ;9 .[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acsbiomaterials.2c01529
Trabalho de evento
Electrochemical electrodes based on laser induced graphene on PECVD a-SiC:H and polyimide (2022)
Faria, D. J; Pinto, Aline Leone Muguet; Bertotti, Mauro ; Carreño, Marcelo Nelson Paez; Pereyra, Inés
Nome do evento: Symposium on Microelectronics Technology and Devices - SBMicro. Unidades: IQ, EP
Assunto: ELETROQUÍMICA
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ABNT
FARIA, D. J et al. Electrochemical electrodes based on laser induced graphene on PECVD a-SiC:H and polyimide. 2022, Anais.. Piscataway: IEEE, 2022. Disponível em: https://doi.org/10.1109/SBMICRO55822.2022.9881043. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Faria, D. J., Pinto, A. L. M., Bertotti, M., Carreño, M. N. P., & Pereyra, I. (2022). Electrochemical electrodes based on laser induced graphene on PECVD a-SiC:H and polyimide. In . Piscataway: IEEE. doi:10.1109/SBMICRO55822.2022.9881043
NLM
Faria DJ, Pinto ALM, Bertotti M, Carreño MNP, Pereyra I. Electrochemical electrodes based on laser induced graphene on PECVD a-SiC:H and polyimide [Internet]. 2022 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1109/SBMICRO55822.2022.9881043
Vancouver
Faria DJ, Pinto ALM, Bertotti M, Carreño MNP, Pereyra I. Electrochemical electrodes based on laser induced graphene on PECVD a-SiC:H and polyimide [Internet]. 2022 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1109/SBMICRO55822.2022.9881043
Trabalho de evento-resumo
Effect of annealing temperature on indium tin oxynitride (ITON) electrical and optical characteristics (2022)
Medeiros, Marina Sparvoli de; Pederzini, Victor; Abe, Igor Yamamoto; Lopes, Alexandre; Pereyra, Inés ; Onmori, Roberto Koji
Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física. Unidades: EP, IP, IF
Assunto: TEMPERATURA
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ABNT
MEDEIROS, Marina Sparvoli de et al. Effect of annealing temperature on indium tin oxynitride (ITON) electrical and optical characteristics. 2022, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2022. . Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Medeiros, M. S. de, Pederzini, V., Abe, I. Y., Lopes, A., Pereyra, I., & Onmori, R. K. (2022). Effect of annealing temperature on indium tin oxynitride (ITON) electrical and optical characteristics. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Medeiros MS de, Pederzini V, Abe IY, Lopes A, Pereyra I, Onmori RK. Effect of annealing temperature on indium tin oxynitride (ITON) electrical and optical characteristics. Resumos. 2022 ;[citado 2025 dez. 02 ]
Vancouver
Medeiros MS de, Pederzini V, Abe IY, Lopes A, Pereyra I, Onmori RK. Effect of annealing temperature on indium tin oxynitride (ITON) electrical and optical characteristics. Resumos. 2022 ;[citado 2025 dez. 02 ]
Trabalho de evento-anais periodico
The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization (2017)
Cassimiro, Vinicius Roberto de Sylos; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés ; Páez Carreño, Marcelo Nelson ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Rehder, Gustavo Pamplona ; Cunha Junior, Rubens Martins; Trcera, Nicolas
Fonte: Proceedings Science BWSP. Nome do evento: Brazilian Workshop on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP
Assuntos: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
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ABNT
CASSIMIRO, Vinicius Roberto de Sylos et al. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051. Acesso em: 02 dez. 2025. , 2017
APA
Cassimiro, V. R. de S., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Páez Carreño, M. N., Alayo Chávez, M. I., Rehder, G. P., et al. (2017). The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.17648/bwsp-2017-70051
NLM
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Vancouver
Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
Artigo de periodico
Fabrication and characterization of aluminum nitride pedestal-type optical waveguide (2014)
Armas Alvarado, Maria Elisia; Pelegrini, Marcus Vinícius ; Pereyra, Inés ; Assumpção, Thiago Alexandre Alves de ; Kassab, Luciana Reyes Pires ; Alayo Chávez, Marco Isaías
Fonte: Canadian Journal of Physics. Unidade: EP
Assuntos: RASTREAMENTO, ULTRASSONOGRAFIA
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ABNT
ARMAS ALVARADO, Maria Elisia et al. Fabrication and characterization of aluminum nitride pedestal-type optical waveguide. Canadian Journal of Physics, v. 92, p. 952-954, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0587. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Armas Alvarado, M. E., Pelegrini, M. V., Pereyra, I., Assumpção, T. A. A. de, Kassab, L. R. P., & Alayo Chávez, M. I. (2014). Fabrication and characterization of aluminum nitride pedestal-type optical waveguide. Canadian Journal of Physics, 92, 952-954. doi:10.1139/cjp-2013-0587
NLM
Armas Alvarado ME, Pelegrini MV, Pereyra I, Assumpção TAA de, Kassab LRP, Alayo Chávez MI. Fabrication and characterization of aluminum nitride pedestal-type optical waveguide [Internet]. Canadian Journal of Physics. 2014 ;92 952-954.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0587
Vancouver
Armas Alvarado ME, Pelegrini MV, Pereyra I, Assumpção TAA de, Kassab LRP, Alayo Chávez MI. Fabrication and characterization of aluminum nitride pedestal-type optical waveguide [Internet]. Canadian Journal of Physics. 2014 ;92 952-954.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0587
Artigo de periodico
Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering1 (2014)
Pelegrini, Marcelo Aparecido ; Pereyra, Inés ; Alvarado, M. A; Alayo Chávez, Marco Isaías
Fonte: Canadian Journal of Physics. Unidade: EP
Assuntos: FILMES FINOS, FOTÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PELEGRINI, Marcelo Aparecido et al. Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering1. Canadian Journal of Physics, v. 92, n. 7/8, p. 940-942, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0556. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Pelegrini, M. A., Pereyra, I., Alvarado, M. A., & Alayo Chávez, M. I. (2014). Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering1. Canadian Journal of Physics, 92( 7/8), 940-942. doi:10.1139/cjp-2013-0556
NLM
Pelegrini MA, Pereyra I, Alvarado MA, Alayo Chávez MI. Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering1 [Internet]. Canadian Journal of Physics. 2014 ; 92( 7/8): 940-942.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0556
Vancouver
Pelegrini MA, Pereyra I, Alvarado MA, Alayo Chávez MI. Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering1 [Internet]. Canadian Journal of Physics. 2014 ; 92( 7/8): 940-942.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0556
Artigo de periodico
Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering (2014)
Pelegrini, Marcus Vinícius ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Armas Alvarado, Maria Elisia; Pereyra, Inés
Fonte: Canadian Journal of Physics. Unidade: EP
Assunto: RADIOGRAFIA
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ABNT
PELEGRINI, Marcus Vinícius et al. Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering. Canadian Journal of Physics, v. 92, p. 940-942, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0556. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Pelegrini, M. V., Alayo Chávez, M. I., Armas Alvarado, M. E., & Pereyra, I. (2014). Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering. Canadian Journal of Physics, 92, 940-942. doi:10.1139/cjp-2013-0556
NLM
Pelegrini MV, Alayo Chávez MI, Armas Alvarado ME, Pereyra I. Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering [Internet]. Canadian Journal of Physics. 2014 ;92 940-942.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0556
Vancouver
Pelegrini MV, Alayo Chávez MI, Armas Alvarado ME, Pereyra I. Deposition and characterization of AlN thin films obtained by radio frequency reactive magnetron sputtering [Internet]. Canadian Journal of Physics. 2014 ;92 940-942.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1139/cjp-2013-0556
Trabalho de evento
TiO2 nanotubes production and characterization (2012)
Fraga, Tiago Marques; Albertin, Katia Franklin ; Pereyra, Inés
Fonte: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Nome do evento: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
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ABNT
FRAGA, Tiago Marques e ALBERTIN, Katia Franklin e PEREYRA, Inés. TiO2 nanotubes production and characterization. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0199ecst. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Fraga, T. M., Albertin, K. F., & Pereyra, I. (2012). TiO2 nanotubes production and characterization. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0199ecst
NLM
Fraga TM, Albertin KF, Pereyra I. TiO2 nanotubes production and characterization [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0199ecst
Vancouver
Fraga TM, Albertin KF, Pereyra I. TiO2 nanotubes production and characterization [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0199ecst
Trabalho de evento
Fabrication of transparent conductive thin films based on multi-walled carbon nanotubes (2012)
Abe, Igor Yamamoto ; Pereyra, Inés
Fonte: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Nome do evento: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ABE, Igor Yamamoto e PEREYRA, Inés. Fabrication of transparent conductive thin films based on multi-walled carbon nanotubes. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0255ecst. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Abe, I. Y., & Pereyra, I. (2012). Fabrication of transparent conductive thin films based on multi-walled carbon nanotubes. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0255ecst
NLM
Abe IY, Pereyra I. Fabrication of transparent conductive thin films based on multi-walled carbon nanotubes [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0255ecst
Vancouver
Abe IY, Pereyra I. Fabrication of transparent conductive thin films based on multi-walled carbon nanotubes [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0255ecst
Trabalho de evento-anais periodico
Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS (2007)
Prado, Rogerio Junqueira; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Páez Carreño, Marcelo Nelson ; Pereyra, Inés ; Flank, A M
Fonte: AIP Conference Proceedings. Nome do evento: X-Ray Absorption Fine Structure - XAFS 13th International Conference. Unidades: IF, EP
Assuntos: FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PRADO, Rogerio Junqueira et al. Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS. AIP Conference Proceedings. New York: The Institute. Disponível em: http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips. Acesso em: 02 dez. 2025. , 2007
APA
Prado, R. J., Fantini, M. C. de A., Páez Carreño, M. N., Pereyra, I., & Flank, A. M. (2007). Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS. AIP Conference Proceedings. New York: The Institute. Recuperado de http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips
NLM
Prado RJ, Fantini MC de A, Páez Carreño MN, Pereyra I, Flank AM. Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2007 ; 882 529-531.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips
Vancouver
Prado RJ, Fantini MC de A, Páez Carreño MN, Pereyra I, Flank AM. Al thermal diffusion in `alfa´-`Si IND.1-X´`C IND.X´:H Thin Film Studied by XAFS [Internet]. AIP Conference Proceedings. 2007 ; 882 529-531.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: http://proceedings.aip.org/getpdf/servlet/GetPDFServlet?filetype=pdf&id=APCPCS000882000001000529000001&idtype=cvips
Artigo de periodico
Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric (2007)
Albertin, Katia Franklin ; Valle, M A; Pereyra, Inés
Fonte: Journal of Integrated Circuits and Systems. Unidade: EP
Assuntos: MICROELETRÔNICA, CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTIN, Katia Franklin e VALLE, M A e PEREYRA, Inés. Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric. Journal of Integrated Circuits and Systems, v. 2, n. 2, 2007Tradução . . Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Albertin, K. F., Valle, M. A., & Pereyra, I. (2007). Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric. Journal of Integrated Circuits and Systems, 2( 2).
NLM
Albertin KF, Valle MA, Pereyra I. Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2007 ;2( 2):[citado 2025 dez. 02 ]
Vancouver
Albertin KF, Valle MA, Pereyra I. Study of MOS capacitor with TiO2 and SiO2 and SiO2/TiO2 gate dielectric. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2007 ;2( 2):[citado 2025 dez. 02 ]
Trabalho de evento
Study of MOS capacitors with annealed TiO2 gate dielectric layer (2007)
Albertin, Katia Franklin ; Valle, Marcio A; Pereyra, Inés
Fonte: SBMicro 2007. Nome do evento: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices SBMICRO. Unidade: EP
Assunto: MICROELETRÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBERTIN, Katia Franklin e VALLE, Marcio A e PEREYRA, Inés. Study of MOS capacitors with annealed TiO2 gate dielectric layer. 2007, Anais.. Pennington: The Electrochemical Society, 2007. Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.2766918. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Albertin, K. F., Valle, M. A., & Pereyra, I. (2007). Study of MOS capacitors with annealed TiO2 gate dielectric layer. In SBMicro 2007. Pennington: The Electrochemical Society. doi:10.1149/1.2766918
NLM
Albertin KF, Valle MA, Pereyra I. Study of MOS capacitors with annealed TiO2 gate dielectric layer [Internet]. SBMicro 2007. 2007 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.2766918
Vancouver
Albertin KF, Valle MA, Pereyra I. Study of MOS capacitors with annealed TiO2 gate dielectric layer [Internet]. SBMicro 2007. 2007 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.2766918
Trabalho de evento-resumo
EXAFS analysis on SiOxNy films (2006)
Criado, Denise ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IF, EP
Assunto: MATERIAIS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CRIADO, Denise e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e PEREYRA, Inés. EXAFS analysis on SiOxNy films. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Criado, D., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). EXAFS analysis on SiOxNy films. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
NLM
Criado D, Fantini MC de A, Pereyra I. EXAFS analysis on SiOxNy films. Abstracts. 2006 ;[citado 2025 dez. 02 ]
Vancouver
Criado D, Fantini MC de A, Pereyra I. EXAFS analysis on SiOxNy films. Abstracts. 2006 ;[citado 2025 dez. 02 ]
Trabalho de evento-resumo
Exafs analysis on sioxny films (2006)
Pereyra, Inés ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Criado, Denise
Fonte: Poster Session G522. Nome do evento: Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisas em Materiais (SBPMat. Unidades: IF, EP
Assunto: MATERIAIS (PESQUISA)
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PEREYRA, Inés e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e CRIADO, Denise. Exafs analysis on sioxny films. 2006, Anais.. Rio de Janeiro: SBPMat, 2006. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Pereyra, I., Fantini, M. C. de A., & Criado, D. (2006). Exafs analysis on sioxny films. In Poster Session G522. Rio de Janeiro: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf
NLM
Pereyra I, Fantini MC de A, Criado D. Exafs analysis on sioxny films [Internet]. Poster Session G522. 2006 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf
Vancouver
Pereyra I, Fantini MC de A, Criado D. Exafs analysis on sioxny films [Internet]. Poster Session G522. 2006 ;[citado 2025 dez. 02 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/5encontro/IndexPosterG.pdf
Artigo de periodico
Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications (2006)
Criado, Denise ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Fonte: Journal of non-crystalline solids. Unidades: IF, EP
Assuntos: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESTRUTURA DOS SÓLIDOS, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CRIADO, Denise et al. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications. Journal of non-crystalline solids, v. 352, n. 23-25, p. 2319-2323, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications. Journal of non-crystalline solids, 352( 23-25), 2319-2323. doi:10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
NLM
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications [Internet]. Journal of non-crystalline solids. 2006 ; 352( 23-25): 2319-2323.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
Vancouver
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications [Internet]. Journal of non-crystalline solids. 2006 ; 352( 23-25): 2319-2323.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
Artigo de periodico
Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films (2006)
Criado, Denise ; Alayo Chávez, Marco Isaías ; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Fonte: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidades: IF, EP
Assuntos: FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CRIADO, Denise et al. Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 352, n. 9-20, p. 1298-1302, 2006Tradução . . Disponível em: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films. Journal of Non-Crystalline Solids, 352( 9-20), 1298-1302. Recuperado de http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e
NLM
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( 9-20): 1298-1302.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e
Vancouver
Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Local bonding in PECVD-"SiO IND.X" "N IND.Y" films [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2006 ; 352( 9-20): 1298-1302.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: http://www.sciencedirect.com/science?_ob=PublicationURL&_cdi=5594&_pubType=J&_auth=y&_acct=C000049650&_version=1&_urlVersion=0&_userid=972067&md5=214bac5d32eab2194b6eace9325ac20e
Artigo de periodico
Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication (2006)
Forhan, Neisy Amparo Escobar; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Pereyra, Inés
Fonte: Journal of the Brazilian Chemical Society. Unidades: IF, EP
Assuntos: FÍSICO-QUÍMICA, CRISTALOGRAFIA FÍSICA, ESPECTROSCOPIA RAMAN, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESPECTROSCOPIA INFRAVERMELHA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FORHAN, Neisy Amparo Escobar e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e PEREYRA, Inés. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication. Journal of the Brazilian Chemical Society, v. 17, n. 6, p. 1158-1162, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013. Acesso em: 02 dez. 2025.
APA
Forhan, N. A. E., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication. Journal of the Brazilian Chemical Society, 17( 6), 1158-1162. doi:10.1590/S0103-50532006000600013
NLM
Forhan NAE, Fantini MC de A, Pereyra I. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication [Internet]. Journal of the Brazilian Chemical Society. 2006 ; 17( 6): 1158-1162.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013
Vancouver
Forhan NAE, Fantini MC de A, Pereyra I. Characterization of Si1-xCx:H thin films deposited by PECVD for SiCOI heterojuntion fabrication [Internet]. Journal of the Brazilian Chemical Society. 2006 ; 17( 6): 1158-1162.[citado 2025 dez. 02 ] Available from: https://doi.org/10.1590/S0103-50532006000600013

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