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  • Trabalho de evento-resumo

    New image reconstruction method from fan-beam projections in limited angle (2001)

    Bustos, Harold I. A.; Hae, Yong Kim ; Lopes, Ricardo T.

    Source: Extended Abstracts. Conference titles: Workshop of SIBRATI. Unidade: EP

    Assunto: PROCESSAMENTO DIGITAL DE IMAGENS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BUSTOS, Harold I. A. e HAE, Yong Kim e LOPES, Ricardo T. New image reconstruction method from fan-beam projections in limited angle. 2001, Anais.. São Paulo: EPUSP, 2001. . Acesso em: 03 nov. 2024.

    • APA

      Bustos, H. I. A., Hae, Y. K., & Lopes, R. T. (2001). New image reconstruction method from fan-beam projections in limited angle. In Extended Abstracts. São Paulo: EPUSP.

    • NLM

      Bustos HIA, Hae YK, Lopes RT. New image reconstruction method from fan-beam projections in limited angle. Extended Abstracts. 2001 ;[citado 2024 nov. 03 ]

    • Vancouver

      Bustos HIA, Hae YK, Lopes RT. New image reconstruction method from fan-beam projections in limited angle. Extended Abstracts. 2001 ;[citado 2024 nov. 03 ]

  • Trabalho de evento-resumo

    Electrical characterization of MOS capacitors with gate of nickel/aluminum (2001)

    Navia, Alan Rodrigo; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: Extended Abstracts. Conference titles: Workshop of SIBRATI. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      NAVIA, Alan Rodrigo e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Electrical characterization of MOS capacitors with gate of nickel/aluminum. 2001, Anais.. São Paulo: EPUSP, 2001. Disponível em: http://www.lsi.usp.br/. Acesso em: 03 nov. 2024.

    • APA

      Navia, A. R., & Santos Filho, S. G. dos. (2001). Electrical characterization of MOS capacitors with gate of nickel/aluminum. In Extended Abstracts. São Paulo: EPUSP. Recuperado de http://www.lsi.usp.br/

    • NLM

      Navia AR, Santos Filho SG dos. Electrical characterization of MOS capacitors with gate of nickel/aluminum [Internet]. Extended Abstracts. 2001 ;[citado 2024 nov. 03 ] Available from: http://www.lsi.usp.br/

    • Vancouver

      Navia AR, Santos Filho SG dos. Electrical characterization of MOS capacitors with gate of nickel/aluminum [Internet]. Extended Abstracts. 2001 ;[citado 2024 nov. 03 ] Available from: http://www.lsi.usp.br/
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