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  • Fonte: OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING. Unidades: IF, IPEN

    Assuntos: HOLOGRAFIA, MICROSCOPIA, HOLOGRAFIA DIGITAL

    Versão PublicadaAcesso à fonteDOIComo citar
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    • ABNT

      RICARDO, J. et al. Digital holographic microscopy with photorefractive sillenite 'BI' IND. 12''SI''O IND. 20' crystals. OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, v. 51, n. 8, p. 949-952, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2012.12.015. Acesso em: 07 out. 2024.
    • APA

      Ricardo, J., Palacios, F., Gesualdi, M. R. R., Valin, J. L., Lopez, M. A. P. A., & Muramatsu, M. (2013). Digital holographic microscopy with photorefractive sillenite 'BI' IND. 12''SI''O IND. 20' crystals. OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, 51( 8), 949-952. doi:10.1016/j.optlaseng.2012.12.015
    • NLM

      Ricardo J, Palacios F, Gesualdi MRR, Valin JL, Lopez MAPA, Muramatsu M. Digital holographic microscopy with photorefractive sillenite 'BI' IND. 12''SI''O IND. 20' crystals [Internet]. OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING. 2013 ; 51( 8): 949-952.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2012.12.015
    • Vancouver

      Ricardo J, Palacios F, Gesualdi MRR, Valin JL, Lopez MAPA, Muramatsu M. Digital holographic microscopy with photorefractive sillenite 'BI' IND. 12''SI''O IND. 20' crystals [Internet]. OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING. 2013 ; 51( 8): 949-952.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2012.12.015
  • Fonte: Resumo. Nome do evento: XXXV Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF

    Assuntos: MICROSCOPIA, HOLOGRAFIA DIGITAL

    Acesso à fonteComo citar
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    • ABNT

      BRITO, I. V. et al. Holographic microscopic techniques applied to microestructured systems analysis. 2012, Anais.. Águas de Lindóia: SBF, 2012. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0644-1.pdf. Acesso em: 07 out. 2024.
    • APA

      Brito, I. V., Muramatsu, M., Gesualdi, M. R. R., Alves, S. I. P. N., Palacios, F., & Perez, J. R. (2012). Holographic microscopic techniques applied to microestructured systems analysis. In Resumo. Águas de Lindóia: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0644-1.pdf
    • NLM

      Brito IV, Muramatsu M, Gesualdi MRR, Alves SIPN, Palacios F, Perez JR. Holographic microscopic techniques applied to microestructured systems analysis [Internet]. Resumo. 2012 ;[citado 2024 out. 07 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0644-1.pdf
    • Vancouver

      Brito IV, Muramatsu M, Gesualdi MRR, Alves SIPN, Palacios F, Perez JR. Holographic microscopic techniques applied to microestructured systems analysis [Internet]. Resumo. 2012 ;[citado 2024 out. 07 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxxv/sys/resumos/R0644-1.pdf
  • Fonte: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. Unidades: IFSC, IF

    Assuntos: PROPRIEDADES DOS MATERIAIS, LENTES (PROPRIEDADES TÉRMICAS), ÓPTICA (PROPRIEDADES)

    Versão PublicadaComo citar
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    • ABNT

      GESUALDI, M. R. R. et al. Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, v. 13, n. 6, p. 643-647, 2011Tradução . . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf. Acesso em: 07 out. 2024.
    • APA

      Gesualdi, M. R. R., Jacinto, C., Andrade, A. A., Catunda, T., & Muramatsu, M. (2011). Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 13( 6), 643-647. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf
    • NLM

      Gesualdi MRR, Jacinto C, Andrade AA, Catunda T, Muramatsu M. Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique [Internet]. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 2011 ; 13( 6): 643-647.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf
    • Vancouver

      Gesualdi MRR, Jacinto C, Andrade AA, Catunda T, Muramatsu M. Thermo-optics parameters measurements in photorefractive sillenite 'BI IND. 12''SI''O IND. 20' crystals by thermal lens technique [Internet]. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 2011 ; 13( 6): 643-647.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/d88a6107-8709-4fcb-a442-843ceafc6ded/mikiya_2011.pdf
  • Fonte: Applied Physics B. Unidades: IF, IFSC

    Assuntos: ÓPTICA (PROPRIEDADES TÉRMICAS), ESPECTROMETRIA, PIROELETRICIDADE, LÍTIO

    Acesso à fonteDOIComo citar
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      GESUALDI, M. R. R. et al. Thermal lens spectrometry in pyroelectric lithium niobate crystals. Applied Physics B, v. 93, n. 4, p. 879-883, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00340-008-3241-x. Acesso em: 07 out. 2024.
    • APA

      Gesualdi, M. R. R., Jacinto, C., Catunda, T., Muramatsu, M., & Pilla, V. (2008). Thermal lens spectrometry in pyroelectric lithium niobate crystals. Applied Physics B, 93( 4), 879-883. doi:10.1007/s00340-008-3241-x
    • NLM

      Gesualdi MRR, Jacinto C, Catunda T, Muramatsu M, Pilla V. Thermal lens spectrometry in pyroelectric lithium niobate crystals [Internet]. Applied Physics B. 2008 ; 93( 4): 879-883.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00340-008-3241-x
    • Vancouver

      Gesualdi MRR, Jacinto C, Catunda T, Muramatsu M, Pilla V. Thermal lens spectrometry in pyroelectric lithium niobate crystals [Internet]. Applied Physics B. 2008 ; 93( 4): 879-883.[citado 2024 out. 07 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00340-008-3241-x

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