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  • Artigo de periodico

    Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force” (2021)

    Macedo, Marcelo de Matos; Luna-Domínguez, Jorge Humberto; Verma, Vikas; Schön, Cláudio Geraldo ; Cozza, Ronaldo Câmara

    Source: Wear. Unidade: EP

    Subjects: AÇO FERRAMENTA, DESGASTE ABRASIVO

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      MACEDO, Marcelo de Matos et al. Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force”. Wear, v. 476, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.wear.2021.203664. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Macedo, M. de M., Luna-Domínguez, J. H., Verma, V., Schön, C. G., & Cozza, R. C. (2021). Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force”. Wear, 476. doi:10.1016/j.wear.2021.203664

    • NLM

      Macedo M de M, Luna-Domínguez JH, Verma V, Schön CG, Cozza RC. Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force” [Internet]. Wear. 2021 ; 476[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2021.203664

    • Vancouver

      Macedo M de M, Luna-Domínguez JH, Verma V, Schön CG, Cozza RC. Assessment of micro-abrasive wear tribological properties of H10 tool-steel under conditions of “constant normal force ⇒ variable pressure” and “constant pressure ⇒ variable normal force” [Internet]. Wear. 2021 ; 476[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2021.203664

  • Parte de monografia/livro

    Information, context and structure in cognition (2018)

    Kogler Júnior, João Eduardo ; Santos, Paulo Eduardo

    Source: Cognitive science: recent advances and recurring problems. Unidade: EP

    Assunto: COGNIÇÃO

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    • ABNT

      KOGLER JÚNIOR, João Eduardo e SANTOS, Paulo Eduardo. Information, context and structure in cognition. Cognitive science: recent advances and recurring problems. Tradução . Delaware: Vernon, 2018. . Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a808a12-65a4-4066-add7-f4abcc2932d3/3204890.pdf. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Kogler Júnior, J. E., & Santos, P. E. (2018). Information, context and structure in cognition. In Cognitive science: recent advances and recurring problems. Delaware: Vernon. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a808a12-65a4-4066-add7-f4abcc2932d3/3204890.pdf

    • NLM

      Kogler Júnior JE, Santos PE. Information, context and structure in cognition [Internet]. In: Cognitive science: recent advances and recurring problems. Delaware: Vernon; 2018. [citado 2024 out. 04 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a808a12-65a4-4066-add7-f4abcc2932d3/3204890.pdf

    • Vancouver

      Kogler Júnior JE, Santos PE. Information, context and structure in cognition [Internet]. In: Cognitive science: recent advances and recurring problems. Delaware: Vernon; 2018. [citado 2024 out. 04 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/0a808a12-65a4-4066-add7-f4abcc2932d3/3204890.pdf

  • Artigo de periodico

    Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films (2018)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Wilcken, Jorge Thiago de Sousa Lima; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. Unidade: EP

    Subjects: ABRASÃO, FILMES FINOS, FRICÇÃO

    Acesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e WILCKEN, Jorge Thiago de Sousa Lima e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, v. 15, n. 4, p. 504-509, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20181468. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., Wilcken, J. T. de S. L., & Schön, C. G. (2018). Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, 15( 4), 504-509. doi:10.4322/2176-1523.20181468

    • NLM

      Cozza RC, Wilcken JT de SL, Schön CG. Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2018 ; 15( 4): 504-509.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20181468

    • Vancouver

      Cozza RC, Wilcken JT de SL, Schön CG. Influence of abrasive wear modes on the coefficient of friction on thin films [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2018 ; 15( 4): 504-509.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.4322/2176-1523.20181468

  • Trabalho de evento

    Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da , (2017)

    Castilho, Felipe Westermann Lopes; Schön, Cláudio Geraldo ; Cozza, Ronaldo Câmara

    Source: Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. Conference titles: Simpósio de Iniciação Científica, Didática de Ações Sociais. Unidade: EP

    Subjects: DESGASTE ABRASIVO, TRIBOLOGIA

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    • ABNT

      CASTILHO, Felipe Westermann Lopes e SCHÖN, Cláudio Geraldo e COZZA, Ronaldo Câmara. Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. 2017, Anais.. São Bernardo do Campo: Centro Universitário FEI, 2017. . Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Castilho, F. W. L., Schön, C. G., & Cozza, R. C. (2017). Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. In Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. São Bernardo do Campo: Centro Universitário FEI.

    • NLM

      Castilho FWL, Schön CG, Cozza RC. Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. 2017 ;[citado 2024 out. 04 ]

    • Vancouver

      Castilho FWL, Schön CG, Cozza RC. Estudo da influência do tipo de partícula abrasiva e da concentração de lama abrasiva sob o comportamento ao desgaste micro--abrasivo da ,. Anais. São Bernardo do Campo, Centro Universitário FEI, 2017. 2017 ;[citado 2024 out. 04 ]

  • Artigo de periodico

    Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions (2015)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Rodrigues, Lucas Cremonese; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Wear. Unidade: EP

    Subjects: ALTA TEMPERATURA, DESGASTE ABRASIVO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e RODRIGUES, Lucas Cremonese e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions. Wear, v. 330-331, p. 250-260, 2015Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.wear.2015.02.021. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., Rodrigues, L. C., & Schön, C. G. (2015). Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions. Wear, 330-331, 250-260. doi:10.1016/j.wear.2015.02.021

    • NLM

      Cozza RC, Rodrigues LC, Schön CG. Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions [Internet]. Wear. 2015 ; 330-331 250-260.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2015.02.021

    • Vancouver

      Cozza RC, Rodrigues LC, Schön CG. Analysis of the micro-abrasive wear behavior of an iron aluminide alloy under ambient and high-temperature conditions [Internet]. Wear. 2015 ; 330-331 250-260.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.wear.2015.02.021

  • Artigo de periodico

    Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion (2015)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Tribology Transactions. Unidade: EP

    Subjects: DESGASTE ABRASIVO, ROLAMENTOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion. Tribology Transactions, v. 58, n. 5, p. 875-881, 2015Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1080/10402004.2015.1024907. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., & Schön, C. G. (2015). Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion. Tribology Transactions, 58( 5), 875-881. doi:10.1080/10402004.2015.1024907

    • NLM

      Cozza RC, Schön CG. Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion [Internet]. Tribology Transactions. 2015 ; 58( 5): 875-881.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1080/10402004.2015.1024907

    • Vancouver

      Cozza RC, Schön CG. Evidence of Superposition between Grooving Abrasion and Rolling Abrasion [Internet]. Tribology Transactions. 2015 ; 58( 5): 875-881.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1080/10402004.2015.1024907

  • Artigo de periodico

    Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives (2014)

    Lima, Fábio; Kaiser, Walter ; Silva, Ivan Nunes da; Oliveira Júnior, Azauri Albano de

    Source: Applied Soft Computing. Unidades: EP, EESC

    Subjects: MOTORES DE INDUÇÃO, LÓGICA FUZZY

    Acesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      LIMA, Fábio et al. Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives. Applied Soft Computing, v. 21, p. 469-480, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.asoc.2014.03.044. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Lima, F., Kaiser, W., Silva, I. N. da, & Oliveira Júnior, A. A. de. (2014). Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives. Applied Soft Computing, 21, 469-480. doi:10.1016/j.asoc.2014.03.044

    • NLM

      Lima F, Kaiser W, Silva IN da, Oliveira Júnior AA de. Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives [Internet]. Applied Soft Computing. 2014 ; 21 469-480.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.asoc.2014.03.044

    • Vancouver

      Lima F, Kaiser W, Silva IN da, Oliveira Júnior AA de. Open-loop neuro-fuzzy speed estimator applied to vector and scalar induction motor drives [Internet]. Applied Soft Computing. 2014 ; 21 469-480.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.asoc.2014.03.044

  • Artigo de periodico

    Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation (2014)

    Bordallo, Caio Cesar Mendes ; Martino, João Antonio ; Teixeira, Fernando Ferrari; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Agopian, Paula Ghedini Der ; Simoen, Eddy ; Claeys, Cor

    Source: Semiconductor Science and Technology. Unidade: EP

    Subjects: RAIOS X, MICROELETRÔNICA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BORDALLO, Caio Cesar Mendes et al. Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation. Semiconductor Science and Technology, v. 29, n. 12, p. 125015, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0268-1242/29/12/125015. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Bordallo, C. C. M., Martino, J. A., Teixeira, F. F., Silveira, M. A. G. da, Agopian, P. G. D., Simoen, E., & Claeys, C. (2014). Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation. Semiconductor Science and Technology, 29( 12), 125015. doi:10.1088/0268-1242/29/12/125015

    • NLM

      Bordallo CCM, Martino JA, Teixeira FF, Silveira MAG da, Agopian PGD, Simoen E, Claeys C. Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 2014 ; 29( 12): 125015.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/29/12/125015

    • Vancouver

      Bordallo CCM, Martino JA, Teixeira FF, Silveira MAG da, Agopian PGD, Simoen E, Claeys C. Analog performance of standard and uniaxial strained triple-gate SOI FinFETs under x-ray radiation [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 2014 ; 29( 12): 125015.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/29/12/125015

  • Trabalho de evento-anais periodico

    Influência do condensado no sistema EGR (2014)

    Maia, Marcio Henrique Leme; Fleury, Agenor de Toledo ; Trielli, Maurício Assumpção; Souza, Jairo de Lima; Nocciolini, Luiz Roberto; Higa, Roberto

    Source: Blucher Engineering Proceedings. Conference titles: Simpósio Internacional de Engenharia Automotiva- SIMEA 2014. Unidade: EP

    Subjects: MOTORES DIESEL, POLUIÇÃO AMBIENTAL (REDUÇÃO)

    PrivadoAcesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MAIA, Marcio Henrique Leme et al. Influência do condensado no sistema EGR. Blucher Engineering Proceedings. São Paulo: Edgard Blucher. Disponível em: https://doi.org/10.5151/engpro-simea2014-21. Acesso em: 04 out. 2024. , 2014

    • APA

      Maia, M. H. L., Fleury, A. de T., Trielli, M. A., Souza, J. de L., Nocciolini, L. R., & Higa, R. (2014). Influência do condensado no sistema EGR. Blucher Engineering Proceedings. São Paulo: Edgard Blucher. doi:10.5151/engpro-simea2014-21

    • NLM

      Maia MHL, Fleury A de T, Trielli MA, Souza J de L, Nocciolini LR, Higa R. Influência do condensado no sistema EGR [Internet]. Blucher Engineering Proceedings. 2014 ; 1( 2): 83-95.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.5151/engpro-simea2014-21

    • Vancouver

      Maia MHL, Fleury A de T, Trielli MA, Souza J de L, Nocciolini LR, Higa R. Influência do condensado no sistema EGR [Internet]. Blucher Engineering Proceedings. 2014 ; 1( 2): 83-95.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.5151/engpro-simea2014-21

  • Artigo de periodico

    Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito (2014)

    Cozza, Ronaldo Câmara ; Suzuki, Rodrigo de Souza; Schön, Cláudio Geraldo

    Source: Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. Unidade: EP

    Subjects: ABRASÃO, DESGASTE, ATRITO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COZZA, Ronaldo Câmara e SUZUKI, Rodrigo de Souza e SCHÖN, Cláudio Geraldo. Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, v. 11, n. 2, p. 117-124, 2014Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.4322/tmm.2014.018. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Cozza, R. C., Suzuki, R. de S., & Schön, C. G. (2014). Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração, 11( 2), 117-124. doi:10.4322/tmm.2014.018

    • NLM

      Cozza RC, Suzuki R de S, Schön CG. Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2014 ; 11( 2): 117-124.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.4322/tmm.2014.018

    • Vancouver

      Cozza RC, Suzuki R de S, Schön CG. Projeto, construção e validação de um equipamento de ensaio de desgaste micro-abrasivo por esfera rotativa livre para medição do coeficiente de atrito [Internet]. Tecnologia em Metalurgia, Materiais e Mineração. 2014 ; 11( 2): 117-124.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.4322/tmm.2014.018

  • Artigo de periodico

    Reasoning about shadows in a mobile robot environment (2013)

    Pereira, Valquiria Fenelon; Santos, Paulo Eduardo; Dee, Hannah Mary ; Cozman, Fabio Gagliardi

    Source: Applied Intelligence. Unidade: EP

    Subjects: LÓGICA, ROBÔS

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      PEREIRA, Valquiria Fenelon et al. Reasoning about shadows in a mobile robot environment. Applied Intelligence, v. 38, n. 4, p. 553-565, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s10489-012-0385-5. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Pereira, V. F., Santos, P. E., Dee, H. M., & Cozman, F. G. (2013). Reasoning about shadows in a mobile robot environment. Applied Intelligence, 38( 4), 553-565. doi:10.1007/s10489-012-0385-5

    • NLM

      Pereira VF, Santos PE, Dee HM, Cozman FG. Reasoning about shadows in a mobile robot environment [Internet]. Applied Intelligence. 2013 ; 38( 4): 553-565.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10489-012-0385-5

    • Vancouver

      Pereira VF, Santos PE, Dee HM, Cozman FG. Reasoning about shadows in a mobile robot environment [Internet]. Applied Intelligence. 2013 ; 38( 4): 553-565.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s10489-012-0385-5

  • Artigo de periodico

    Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices (2013)

    Agopian, Paula Ghedini Der ; Bordallo, Caio Cesar Mendes ; Simoen, Eddy ; Martino, João Antonio ; Claeys, Cor

    Source: Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159. Unidade: EP

    Subjects: SILÍCIO, IRRADIAÇÃO

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      AGOPIAN, Paula Ghedini Der et al. Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159, v. 90, p. 155-159, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.037. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Agopian, P. G. D., Bordallo, C. C. M., Simoen, E., Martino, J. A., & Claeys, C. (2013). Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159, 90, 155-159. doi:10.1016/j.sse.2013.02.037

    • NLM

      Agopian PGD, Bordallo CCM, Simoen E, Martino JA, Claeys C. Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices [Internet]. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159. 2013 ; 90 155-159.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.037

    • Vancouver

      Agopian PGD, Bordallo CCM, Simoen E, Martino JA, Claeys C. Stress engineering and proton radiation influence on off-state leakage current in triple-gate SOI devices [Internet]. Solid-State Electronics Volume 90, December 2013, Pages 155-159. 2013 ; 90 155-159.[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.037

  • Trabalho de evento

    Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs (2012)

    Souza, Michelly de ; Kilchytska, Valeriya ; Flandre, Denis ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SOUZA, Michelly de et al. Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0135ecst. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Souza, M. de, Kilchytska, V., Flandre, D., & Pavanello, M. A. (2012). Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0135ecst

    • NLM

      Souza M de, Kilchytska V, Flandre D, Pavanello MA. Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0135ecst

    • Vancouver

      Souza M de, Kilchytska V, Flandre D, Pavanello MA. Liquid helium temperature operation of graded-channel SOI nMOSFETs [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0135ecst

  • Trabalho de evento

    Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements (2012)

    Mariniello, Genaro ; Doria, Rodrigo Trevisoli ; Trevisoli, Renan ; Souza, Michelly de ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MARINIELLO, Genaro et al. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Mariniello, G., Doria, R. T., Trevisoli, R., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0231ecst

    • NLM

      Mariniello G, Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst

    • Vancouver

      Mariniello G, Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Intrinsic gate capacitances of n-type junctionless nanowire transistors using a three-dimensional device simulation and experimental measurements [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0231ecst

  • Trabalho de evento

    Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors (2012)

    Trevisoli, Renan ; Doria, Rodrigo Trevisoli ; Souza, Michelly de ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      TREVISOLI, Renan et al. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Trevisoli, R., Doria, R. T., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0207ecst

    • NLM

      Trevisoli R, Doria RT, Souza M de, Pavanello MA. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst

    • Vancouver

      Trevisoli R, Doria RT, Souza M de, Pavanello MA. Accounting for short channel effects in the drain current modeling of junctionless nanowire transistors [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0207ecst

  • Trabalho de evento

    Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance (2012)

    Doria, Rodrigo Trevisoli ; Trevisoli, Renan ; Souza, Michelly de ; Pavanello, Marcelo Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      DORIA, Rodrigo Trevisoli et al. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Doria, R. T., Trevisoli, R., Souza, M. de, & Pavanello, M. A. (2012). Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0215ecst

    • NLM

      Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst

    • Vancouver

      Doria RT, Trevisoli R, Souza M de, Pavanello MA. Application of junctionless nanowire transistor in the self-cascode configuration to improve the analog performance [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0215ecst

  • Artigo de periodico-dep/entr

    Sempre no topo. [Depoimento] (2012)

    Lemos, Francisco Eneas da Cunha; Barbeta, Vagner Bernal; Zacarelli, Silvana; Silva, Paulo Sérgio Germano da; Rosa, Renata Lopes; Yoshinari, Jin; Principeza, Pedro Henrique dos Santos; Rosalino, elton Spinelli; Tonidandel, Flavio

    Source: Domínio FEI. Unidades: EP, FAU

    Subjects: UNIVERSIDADE, INFORMÁTICA (ESTUDO E ENSINO)

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LEMOS, Francisco Eneas da Cunha et al. Sempre no topo. [Depoimento]. Domínio FEI. São Paulo: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. Disponível em: http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI. Acesso em: 04 out. 2024. , 2012

    • APA

      Lemos, F. E. da C., Barbeta, V. B., Zacarelli, S., Silva, P. S. G. da, Rosa, R. L., Yoshinari, J., et al. (2012). Sempre no topo. [Depoimento]. Domínio FEI. São Paulo: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI

    • NLM

      Lemos FE da C, Barbeta VB, Zacarelli S, Silva PSG da, Rosa RL, Yoshinari J, Principeza PH dos S, Rosalino elton S, Tonidandel F. Sempre no topo. [Depoimento] [Internet]. Domínio FEI. 2012 ; 3( ja/mar. 2012): 36-41.[citado 2024 out. 04 ] Available from: http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI

    • Vancouver

      Lemos FE da C, Barbeta VB, Zacarelli S, Silva PSG da, Rosa RL, Yoshinari J, Principeza PH dos S, Rosalino elton S, Tonidandel F. Sempre no topo. [Depoimento] [Internet]. Domínio FEI. 2012 ; 3( ja/mar. 2012): 36-41.[citado 2024 out. 04 ] Available from: http://portal.fei.edu.br/revista%20Dominio%20FEI

  • Trabalho de evento

    Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si (2012)

    Alves, João Ricardo Ortega; Fonseca Junior, Taylor Mac Intyer; Martorano, Marcelo de Aquino

    Conference titles: Congresso da ABM Internacional. Unidade: EP

    Subjects: FUNDIÇÃO, CENTRIFUGAÇÃO, LIGAS FUNDIDAS

    DOIHow to cite
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    • ABNT

      ALVES, João Ricardo Ortega e FONSECA JUNIOR, Taylor Mac Intyer e MARTORANO, Marcelo de Aquino. Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. 2012, Anais.. São Paulo: ABM, 2012. . Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Alves, J. R. O., Fonseca Junior, T. M. I., & Martorano, M. de A. (2012). Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. In . São Paulo: ABM. doi:10.5151/2594-5327-21000

    • NLM

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ]

    • Vancouver

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Influência do resfriamento e da centrifugação na fundição de liga Al-7%Si. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ]

  • Trabalho de evento

    Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices (2012)

    Rodrigues, Michele; Cruz, E. O.; Galeti, Milene; Martino, João Antonio

    Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    PrivadoAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      RODRIGUES, Michele et al. Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0153ecst. Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Rodrigues, M., Cruz, E. O., Galeti, M., & Martino, J. A. (2012). Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0153ecst

    • NLM

      Rodrigues M, Cruz EO, Galeti M, Martino JA. Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0153ecst

    • Vancouver

      Rodrigues M, Cruz EO, Galeti M, Martino JA. Analysis of the self-heating effect in UTBOX devices [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 out. 04 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0153ecst

  • Trabalho de evento

    Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹ (2011)

    Alves, João Ricardo Ortega; Fonseca Junior, Taylor Mac Intyer; Martorano, Marcelo de Aquino

    Source: Anais. São Paulo, ABM, 2011. Conference titles: Congresso Anual da ABM. Unidade: EP

    Subjects: FUNDIÇÃO, MUDANÇA DE FASE, SOLIDIFICAÇÃO

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ALVES, João Ricardo Ortega e FONSECA JUNIOR, Taylor Mac Intyer e MARTORANO, Marcelo de Aquino. Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. 2011, Anais.. São Paulo: ABM, 2011. . Acesso em: 04 out. 2024.

    • APA

      Alves, J. R. O., Fonseca Junior, T. M. I., & Martorano, M. de A. (2011). Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. In Anais. São Paulo, ABM, 2011. São Paulo: ABM.

    • NLM

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. Anais. São Paulo, ABM, 2011. 2011 ;[citado 2024 out. 04 ]

    • Vancouver

      Alves JRO, Fonseca Junior TMI, Martorano M de A. Fundição centrífuga de liga comercial Al-7%Si¹. Anais. São Paulo, ABM, 2011. 2011 ;[citado 2024 out. 04 ]

1 - 20 (25 records)

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