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Material didatico
Metodos experimentais ii (1996)
Bagnato, Vanderlei Salvador; Siu Li, Máximo; Basmaji, Pierre; Nunes, F D; Hernandes, Antônio Carlos; Donoso, José Pedro; Lanças, Fernando Mauro
Unidades: IFSC, IQSC
Assunto: FÍSICA (ESTUDO E ENSINO)
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ABNT
BAGNATO, Vanderlei Salvador et al. Metodos experimentais ii. . Sao Carlos: IFSC-USP. . Acesso em: 11 jul. 2024. , 1996
APA
Bagnato, V. S., Siu Li, M., Basmaji, P., Nunes, F. D., Hernandes, A. C., Donoso, J. P., & Lanças, F. M. (1996). Metodos experimentais ii. Sao Carlos: IFSC-USP.
NLM
Bagnato VS, Siu Li M, Basmaji P, Nunes FD, Hernandes AC, Donoso JP, Lanças FM. Metodos experimentais ii. 1996 ;[citado 2024 jul. 11 ]
Vancouver
Bagnato VS, Siu Li M, Basmaji P, Nunes FD, Hernandes AC, Donoso JP, Lanças FM. Metodos experimentais ii. 1996 ;[citado 2024 jul. 11 ]
Artigo de periodico
Anisotropy investigations and photoluminescence properties of porous silicon (1994)
Basmaji, Pierre; Surdutovich, G I; Vitlina, R Z; Kolenda, J; Bagnato, Vanderlei Salvador; Mohajeri-Moghaddam, H; Peyghambarian, N
Fonte: Solid State Communications. Unidade: IFSC
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, MATÉRIA CONDENSADA, SUPERFÍCIE FÍSICA
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ABNT
BASMAJI, Pierre et al. Anisotropy investigations and photoluminescence properties of porous silicon. Solid State Communications, v. 91, n. 8 , p. 649-53, 1994Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0038-1098(94)90565-7. Acesso em: 11 jul. 2024.
APA
Basmaji, P., Surdutovich, G. I., Vitlina, R. Z., Kolenda, J., Bagnato, V. S., Mohajeri-Moghaddam, H., & Peyghambarian, N. (1994). Anisotropy investigations and photoluminescence properties of porous silicon. Solid State Communications, 91( 8 ), 649-53. doi:10.1016/0038-1098(94)90565-7
NLM
Basmaji P, Surdutovich GI, Vitlina RZ, Kolenda J, Bagnato VS, Mohajeri-Moghaddam H, Peyghambarian N. Anisotropy investigations and photoluminescence properties of porous silicon [Internet]. Solid State Communications. 1994 ;91( 8 ): 649-53.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0038-1098(94)90565-7
Vancouver
Basmaji P, Surdutovich GI, Vitlina RZ, Kolenda J, Bagnato VS, Mohajeri-Moghaddam H, Peyghambarian N. Anisotropy investigations and photoluminescence properties of porous silicon [Internet]. Solid State Communications. 1994 ;91( 8 ): 649-53.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0038-1098(94)90565-7
Trabalho de evento-resumo
Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering (1993)
Bagnato, Vanderlei Salvador; Basmaji, Pierre; Grivickas, V; Surdutovich, G I; Vitlina, R
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian School of Semiconductor Physics. Unidade: IFQSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
BAGNATO, Vanderlei Salvador et al. Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering. 1993, Anais.. Sao Carlos: Usp/Ufscar, 1993. . Acesso em: 11 jul. 2024.
APA
Bagnato, V. S., Basmaji, P., Grivickas, V., Surdutovich, G. I., & Vitlina, R. (1993). Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering. In Abstracts. Sao Carlos: Usp/Ufscar.
NLM
Bagnato VS, Basmaji P, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering. Abstracts. 1993 ;[citado 2024 jul. 11 ]
Vancouver
Bagnato VS, Basmaji P, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering. Abstracts. 1993 ;[citado 2024 jul. 11 ]
Artigo de periodico
Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements (1993)
Basmaji, Pierre; Bagnato, Vanderlei Salvador; Grivickas, V; Surdutovich, G I; Vitlina, R
Fonte: Thin Solid Films. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
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ABNT
BASMAJI, Pierre et al. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements. Thin Solid Films, v. 223, n. 1 , p. 131-6, 1993Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y. Acesso em: 11 jul. 2024.
APA
Basmaji, P., Bagnato, V. S., Grivickas, V., Surdutovich, G. I., & Vitlina, R. (1993). Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements. Thin Solid Films, 223( 1 ), 131-6. doi:10.1016/0040-6090(93)90074-y
NLM
Basmaji P, Bagnato VS, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements [Internet]. Thin Solid Films. 1993 ;223( 1 ): 131-6.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y
Vancouver
Basmaji P, Bagnato VS, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements [Internet]. Thin Solid Films. 1993 ;223( 1 ): 131-6.[citado 2024 jul. 11 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y
Trabalho de evento-resumo
Polarized light reflectance measurements of the porous films parameters (1992)
Bagnato, Vanderlei Salvador; Basmaji, Pierre; Grivickas, V; Surdutovich, G I; Vitlina, R
Fonte: Programa e Resumos. Nome do evento: Simposio Estadual de Lasers e Aplicacoes. Unidade: IFSC
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BAGNATO, Vanderlei Salvador et al. Polarized light reflectance measurements of the porous films parameters. 1992, Anais.. Sao Paulo: Ipen, 1992. . Acesso em: 11 jul. 2024.
APA
Bagnato, V. S., Basmaji, P., Grivickas, V., Surdutovich, G. I., & Vitlina, R. (1992). Polarized light reflectance measurements of the porous films parameters. In Programa e Resumos. Sao Paulo: Ipen.
NLM
Bagnato VS, Basmaji P, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Polarized light reflectance measurements of the porous films parameters. Programa e Resumos. 1992 ;[citado 2024 jul. 11 ]
Vancouver
Bagnato VS, Basmaji P, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Polarized light reflectance measurements of the porous films parameters. Programa e Resumos. 1992 ;[citado 2024 jul. 11 ]
Trabalho de evento
Investigation of porous silicon films structure by optical methods (1992)
Basmaji, Pierre; Grivickas, V.; Surdutovich, G. I.; Vitlina, R.; Bagnato, Vanderlei Salvador
Fonte: Proceedings. Nome do evento: Fall Meeting of the Materials Research Society. Unidade: IFQSC
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA, CIRCUITOS ELETRÔNICOS, MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BASMAJI, Pierre et al. Investigation of porous silicon films structure by optical methods. 1992, Anais.. Warrendale: Materials Research Society - MRS, 1992. . Acesso em: 11 jul. 2024.
APA
Basmaji, P., Grivickas, V., Surdutovich, G. I., Vitlina, R., & Bagnato, V. S. (1992). Investigation of porous silicon films structure by optical methods. In Proceedings. Warrendale: Materials Research Society - MRS.
NLM
Basmaji P, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R, Bagnato VS. Investigation of porous silicon films structure by optical methods. Proceedings. 1992 ;[citado 2024 jul. 11 ]
Vancouver
Basmaji P, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R, Bagnato VS. Investigation of porous silicon films structure by optical methods. Proceedings. 1992 ;[citado 2024 jul. 11 ]

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