A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores (2003)
Unidade: IFAssunto: SEMICONDUTORES
ABNT
DALPIAN, Gustavo Martini. A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores. 2003. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2003. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-09082012-202357/. Acesso em: 01 nov. 2024.APA
Dalpian, G. M. (2003). A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-09082012-202357/NLM
Dalpian GM. A natureza de defeitos em bulk e em superfície de semicondutores [Internet]. 2003 ;[citado 2024 nov. 01 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-09082012-202357/Vancouver
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