Aplicacoes e extensao da tecnica de boundary-scan ao teste de modulos multichip (1996)
Unidade: EPAssunto: ENGENHARIA ELÉTRICA
ABNT
COSSI JUNIOR, Roberto Cangellar. Aplicacoes e extensao da tecnica de boundary-scan ao teste de modulos multichip. 1996. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1996. . Acesso em: 04 jul. 2024.APA
Cossi Junior, R. C. (1996). Aplicacoes e extensao da tecnica de boundary-scan ao teste de modulos multichip (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.NLM
Cossi Junior RC. Aplicacoes e extensao da tecnica de boundary-scan ao teste de modulos multichip. 1996 ;[citado 2024 jul. 04 ]Vancouver
Cossi Junior RC. Aplicacoes e extensao da tecnica de boundary-scan ao teste de modulos multichip. 1996 ;[citado 2024 jul. 04 ]