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Trabalho de evento-resumo
Surface modification by the adsorption of halogen uracil molecules (2001)
Cunha, F.; Nart, Francisco Carlos
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: IQSC
Assunto: ELETROQUÍMICA
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ABNT
CUNHA, F. e NART, Francisco Carlos. Surface modification by the adsorption of halogen uracil molecules. 2001, Anais.. Florianópolis: Instituto de Química de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Cunha, F., & Nart, F. C. (2001). Surface modification by the adsorption of halogen uracil molecules. In Abstracts. Florianópolis: Instituto de Química de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Cunha F, Nart FC. Surface modification by the adsorption of halogen uracil molecules. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Cunha F, Nart FC. Surface modification by the adsorption of halogen uracil molecules. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Relaxation phenomena in XPS of heteropolymetalate cellulose-esthers (2001)
Oliveira, Francílio de Carvalho; Pireaux, Jean-Jacques; Plepis, Ana Maria de Guzzi ; Schneider, José Fabian ; Landers, Richard; Siervo, Abner; Rodrigues Filho, Ubirajara Pereira
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidades: IFSC, IQSC
Assunto: QUÍMICA INORGÂNICA
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ABNT
OLIVEIRA, Francílio de Carvalho et al. Relaxation phenomena in XPS of heteropolymetalate cellulose-esthers. 2001, Anais.. Florianópolis: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Oliveira, F. de C., Pireaux, J. -J., Plepis, A. M. de G., Schneider, J. F., Landers, R., Siervo, A., & Rodrigues Filho, U. P. (2001). Relaxation phenomena in XPS of heteropolymetalate cellulose-esthers. In Abstracts. Florianópolis: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Oliveira F de C, Pireaux J-J, Plepis AM de G, Schneider JF, Landers R, Siervo A, Rodrigues Filho UP. Relaxation phenomena in XPS of heteropolymetalate cellulose-esthers. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Oliveira F de C, Pireaux J-J, Plepis AM de G, Schneider JF, Landers R, Siervo A, Rodrigues Filho UP. Relaxation phenomena in XPS of heteropolymetalate cellulose-esthers. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Correlation between catalytic test and characterization of CuO-Ti´O IND.2´ catalytic system modified by cerium oxide (2001)
Francisco, Maria Suzana Prataviera; Nascente, Pedro A P; Mastelaro, Valmor Roberto ; Florentino, Ariovaldo O
Fonte: Abstracts book. Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
FRANCISCO, Maria Suzana Prataviera et al. Correlation between catalytic test and characterization of CuO-Ti´O IND.2´ catalytic system modified by cerium oxide. 2001, Anais.. Florianópolis: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Francisco, M. S. P., Nascente, P. A. P., Mastelaro, V. R., & Florentino, A. O. (2001). Correlation between catalytic test and characterization of CuO-Ti´O IND.2´ catalytic system modified by cerium oxide. In Abstracts book. Florianópolis: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Francisco MSP, Nascente PAP, Mastelaro VR, Florentino AO. Correlation between catalytic test and characterization of CuO-Ti´O IND.2´ catalytic system modified by cerium oxide. Abstracts book. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Francisco MSP, Nascente PAP, Mastelaro VR, Florentino AO. Correlation between catalytic test and characterization of CuO-Ti´O IND.2´ catalytic system modified by cerium oxide. Abstracts book. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Characterization of the layers formed on the surface of plasma-nitrided iron (2001)
Gontijo, Leonardo Cabral; Nascente, Pedro Augusto de Paula; Machado, R.; Miola, Eduardo José; Casteletti, Luiz Carlos
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: EESC
Assuntos: LIGAS METÁLICAS, TRIBOLOGIA (PROPRIEDADES MECÂNICAS)
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ABNT
GONTIJO, Leonardo Cabral et al. Characterization of the layers formed on the surface of plasma-nitrided iron. 2001, Anais.. Florianópolis: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Gontijo, L. C., Nascente, P. A. de P., Machado, R., Miola, E. J., & Casteletti, L. C. (2001). Characterization of the layers formed on the surface of plasma-nitrided iron. In Abstracts. Florianópolis: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Gontijo LC, Nascente PA de P, Machado R, Miola EJ, Casteletti LC. Characterization of the layers formed on the surface of plasma-nitrided iron. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Gontijo LC, Nascente PA de P, Machado R, Miola EJ, Casteletti LC. Characterization of the layers formed on the surface of plasma-nitrided iron. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Tuning surface and interface reactivity: The reduction of nitrogen oxides (2001)
Nart, Francisco Carlos
Fonte: Abstracts. Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: IQSC
Assunto: ELETROQUÍMICA
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ABNT
NART, Francisco Carlos. Tuning surface and interface reactivity: The reduction of nitrogen oxides. 2001, Anais.. Florianópolis: Instituto de Química de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2001. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Nart, F. C. (2001). Tuning surface and interface reactivity: The reduction of nitrogen oxides. In Abstracts. Florianópolis: Instituto de Química de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Nart FC. Tuning surface and interface reactivity: The reduction of nitrogen oxides. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Nart FC. Tuning surface and interface reactivity: The reduction of nitrogen oxides. Abstracts. 2001 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-anais periodico
Structural and magnetic study of FePt thin films as a function of the deposition temperature (2001)
Martins, A.; Fantini, Márcia Carvalho de Abreu ; Santos, A. D.
Fonte: Physica Status Solidi A - Applied Research. Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: IF
Assuntos: MICROSCÓPIO ELETRÔNICO, MAGNETISMO, FILMES FINOS
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ABNT
MARTINS, A. e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e SANTOS, A. D. Structural and magnetic study of FePt thin films as a function of the deposition temperature. Physica Status Solidi A - Applied Research. Berlin: Wiley-VCH. Disponível em: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext?ID=85512463&PLACEBO=IE.pdf. Acesso em: 08 nov. 2025. , 2001
APA
Martins, A., Fantini, M. C. de A., & Santos, A. D. (2001). Structural and magnetic study of FePt thin films as a function of the deposition temperature. Physica Status Solidi A - Applied Research. Berlin: Wiley-VCH. Recuperado de http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext?ID=85512463&PLACEBO=IE.pdf
NLM
Martins A, Fantini MC de A, Santos AD. Structural and magnetic study of FePt thin films as a function of the deposition temperature [Internet]. Physica Status Solidi A - Applied Research. 2001 ; 187( 1): 189-193.[citado 2025 nov. 08 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext?ID=85512463&PLACEBO=IE.pdf
Vancouver
Martins A, Fantini MC de A, Santos AD. Structural and magnetic study of FePt thin films as a function of the deposition temperature [Internet]. Physica Status Solidi A - Applied Research. 2001 ; 187( 1): 189-193.[citado 2025 nov. 08 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext?ID=85512463&PLACEBO=IE.pdf
Trabalho de evento-resumo
Electrical behaviour of thin films porous silicon layers (1995)
Salcedo, Walter Jaimes ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
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ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. 1995, Anais.. Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1995). Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. In . Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo.
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Electrical behaviour of thin films porous silicon layers. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Electrodeposition of Fe thin films (1995)
Martins, L F O; Paes Junior, H R; Hasenack, Claus Martin; Oliveira, L S; Pasa, A A
Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MARTINS, L F O et al. Electrodeposition of Fe thin films. 1995, Anais.. Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Martins, L. F. O., Paes Junior, H. R., Hasenack, C. M., Oliveira, L. S., & Pasa, A. A. (1995). Electrodeposition of Fe thin films. In . Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo.
NLM
Martins LFO, Paes Junior HR, Hasenack CM, Oliveira LS, Pasa AA. Electrodeposition of Fe thin films. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Martins LFO, Paes Junior HR, Hasenack CM, Oliveira LS, Pasa AA. Electrodeposition of Fe thin films. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Raman scattering of optical phonons in ' ('ga''as') IND.N'' ('al''as') IND.N' superlattices grown on (311) a and (311) surfaces (1995)
Pusep, Yuri A ; Silva, S W; Galzerani, J C; Lubyshev, D I; Basmaji, Pierre
Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: IFSC
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS), MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PUSEP, Yuri A et al. Raman scattering of optical phonons in ' ('ga''as') IND.N'' ('al''as') IND.N' superlattices grown on (311) a and (311) surfaces. 1995, Anais.. Mangaratiba: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Pusep, Y. A., Silva, S. W., Galzerani, J. C., Lubyshev, D. I., & Basmaji, P. (1995). Raman scattering of optical phonons in ' ('ga''as') IND.N'' ('al''as') IND.N' superlattices grown on (311) a and (311) surfaces. In . Mangaratiba: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Pusep YA, Silva SW, Galzerani JC, Lubyshev DI, Basmaji P. Raman scattering of optical phonons in ' ('ga''as') IND.N'' ('al''as') IND.N' superlattices grown on (311) a and (311) surfaces. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Pusep YA, Silva SW, Galzerani JC, Lubyshev DI, Basmaji P. Raman scattering of optical phonons in ' ('ga''as') IND.N'' ('al''as') IND.N' superlattices grown on (311) a and (311) surfaces. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
System to vapours detection using a multisensor array (1995)
Baratto, G; Ramírez Fernandez, Francisco Javier ; Castilho, D; Pereira, G; Perez, M
Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
BARATTO, G et al. System to vapours detection using a multisensor array. 1995, Anais.. Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Baratto, G., Ramírez Fernandez, F. J., Castilho, D., Pereira, G., & Perez, M. (1995). System to vapours detection using a multisensor array. In . Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo.
NLM
Baratto G, Ramírez Fernandez FJ, Castilho D, Pereira G, Perez M. System to vapours detection using a multisensor array. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Baratto G, Ramírez Fernandez FJ, Castilho D, Pereira G, Perez M. System to vapours detection using a multisensor array. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Study of atomic-scale roughness and segregation in the ultrathin-layer 'GA''AS' / 'AL''AS' superlattices by raman scattering (1995)
Pusep, Yuri A ; Silva, S W; Galzerani, J C; Lubyshev, D I; Basmaji, Pierre
Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: IFSC
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS), MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
PUSEP, Yuri A et al. Study of atomic-scale roughness and segregation in the ultrathin-layer 'GA''AS' / 'AL''AS' superlattices by raman scattering. 1995, Anais.. Mangaratiba: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Pusep, Y. A., Silva, S. W., Galzerani, J. C., Lubyshev, D. I., & Basmaji, P. (1995). Study of atomic-scale roughness and segregation in the ultrathin-layer 'GA''AS' / 'AL''AS' superlattices by raman scattering. In . Mangaratiba: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Pusep YA, Silva SW, Galzerani JC, Lubyshev DI, Basmaji P. Study of atomic-scale roughness and segregation in the ultrathin-layer 'GA''AS' / 'AL''AS' superlattices by raman scattering. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Pusep YA, Silva SW, Galzerani JC, Lubyshev DI, Basmaji P. Study of atomic-scale roughness and segregation in the ultrathin-layer 'GA''AS' / 'AL''AS' superlattices by raman scattering. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Si/SiO2 electronic roughness: a consequence of Si/SiO2 interface roughness (1995)
Lopes, M C V; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Hasenack, Claus Martin; Baranauskas, V
Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LOPES, M C V et al. Si/SiO2 electronic roughness: a consequence of Si/SiO2 interface roughness. 1995, Anais.. Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Lopes, M. C. V., Santos Filho, S. G. dos, Hasenack, C. M., & Baranauskas, V. (1995). Si/SiO2 electronic roughness: a consequence of Si/SiO2 interface roughness. In . Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo.
NLM
Lopes MCV, Santos Filho SG dos, Hasenack CM, Baranauskas V. Si/SiO2 electronic roughness: a consequence of Si/SiO2 interface roughness. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Lopes MCV, Santos Filho SG dos, Hasenack CM, Baranauskas V. Si/SiO2 electronic roughness: a consequence of Si/SiO2 interface roughness. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Trabalho de evento-resumo
Silicon porous as photoconductive material (1995)
Galeazzo, Elisabete ; Ramírez Fernandez, Francisco Javier
Nome do evento: Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. Unidade: EP
Assunto: SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GALEAZZO, Elisabete e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Silicon porous as photoconductive material. 1995, Anais.. Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 08 nov. 2025.
APA
Galeazzo, E., & Ramírez Fernandez, F. J. (1995). Silicon porous as photoconductive material. In . Rio de Janeiro: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo.
NLM
Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ. Silicon porous as photoconductive material. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]
Vancouver
Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ. Silicon porous as photoconductive material. 1995 ;[citado 2025 nov. 08 ]

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