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Artigo de periodico
ZnTe nanocrystal formation and growth control on UV-transparent substrate (2010)
Dantas, Noelio Oliveira; Silva, Alessandra dos Santos; Silva, Sebastião Willian da; Morais, Paulo César de; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Marques, Gilmar Eugênio
Source: Chemical Physics Letters. Unidade: IFSC
Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, NANOTECNOLOGIA, ESPECTROSCOPIA RAMAN
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ABNT
DANTAS, Noelio Oliveira et al. ZnTe nanocrystal formation and growth control on UV-transparent substrate. Chemical Physics Letters, v. No 2010, n. 1/3, p. 46-48, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.cplett.2010.09.035. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Dantas, N. O., Silva, A. dos S., Silva, S. W. da, Morais, P. C. de, Silva, M. de A. P. da, & Marques, G. E. (2010). ZnTe nanocrystal formation and growth control on UV-transparent substrate. Chemical Physics Letters, No 2010( 1/3), 46-48. doi:10.1016/j.cplett.2010.09.035
NLM
Dantas NO, Silva A dos S, Silva SW da, Morais PC de, Silva M de AP da, Marques GE. ZnTe nanocrystal formation and growth control on UV-transparent substrate [Internet]. Chemical Physics Letters. 2010 ; No 2010( 1/3): 46-48.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.cplett.2010.09.035
Vancouver
Dantas NO, Silva A dos S, Silva SW da, Morais PC de, Silva M de AP da, Marques GE. ZnTe nanocrystal formation and growth control on UV-transparent substrate [Internet]. Chemical Physics Letters. 2010 ; No 2010( 1/3): 46-48.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.cplett.2010.09.035
Trabalho de evento-resumo
Zirconia sol-gel coatings deposited on 304 stainless steel for chemical protection in acid media (1995)
Perdomo Luna, F.; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Avaca, Luís Alberto; Aegerter, Michel André
Source: Abstracts. Conference titles: Interamerican Congress on Electron Microscopy. Unidades: IQSC, IFSC
Assunto: QUÍMICA
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ABNT
PERDOMO LUNA, F. et al. Zirconia sol-gel coatings deposited on 304 stainless steel for chemical protection in acid media. 1995, Anais.. Caxambu: Instituto de Química de São Carlos, Universidade de São Paulo, 1995. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Perdomo Luna, F., Silva, M. de A. P. da, Avaca, L. A., & Aegerter, M. A. (1995). Zirconia sol-gel coatings deposited on 304 stainless steel for chemical protection in acid media. In Abstracts. Caxambu: Instituto de Química de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Perdomo Luna F, Silva M de AP da, Avaca LA, Aegerter MA. Zirconia sol-gel coatings deposited on 304 stainless steel for chemical protection in acid media. Abstracts. 1995 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Perdomo Luna F, Silva M de AP da, Avaca LA, Aegerter MA. Zirconia sol-gel coatings deposited on 304 stainless steel for chemical protection in acid media. Abstracts. 1995 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Artigo de periodico
Wormlike micelles of block copolymers: measuring the linear density by AFM and light scattering (2004)
LaRue, Isaac; Adam, Mireille; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Sheiko, Sergei S.; Rubinstein, Michael
Source: Macromolecules. Unidade: IFSC
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, ELETROQUÍMICA, TEMPERATURA, MICROSCOPIA
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ABNT
LARUE, Isaac et al. Wormlike micelles of block copolymers: measuring the linear density by AFM and light scattering. Macromolecules, v. 37, n. Ju 2004, p. 5002-5005, 2004Tradução . . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
LaRue, I., Adam, M., Silva, M. de A. P. da, Sheiko, S. S., & Rubinstein, M. (2004). Wormlike micelles of block copolymers: measuring the linear density by AFM and light scattering. Macromolecules, 37( Ju 2004), 5002-5005.
NLM
LaRue I, Adam M, Silva M de AP da, Sheiko SS, Rubinstein M. Wormlike micelles of block copolymers: measuring the linear density by AFM and light scattering. Macromolecules. 2004 ; 37( Ju 2004): 5002-5005.[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
LaRue I, Adam M, Silva M de AP da, Sheiko SS, Rubinstein M. Wormlike micelles of block copolymers: measuring the linear density by AFM and light scattering. Macromolecules. 2004 ; 37( Ju 2004): 5002-5005.[citado 2024 abr. 16 ]
Artigo de periodico
Water enabled self-healing polymeric coating with reduced graphene oxide-reinforcement for sensors (2021)
Ly, Kally C. S.; Jimenez, Mawin J. M.; Cucatti, Silvia; Volpati, Diogo; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Shimizu, Flavio M.; Almeida, Tiago P.; Rodrigues, Varlei; Silva, Jose Alberto F. da; Alvarez, Fernando; Riul Junior, Antonio
Source: Sensors and Actuators Reports. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, SENSOR
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ABNT
LY, Kally C. S. et al. Water enabled self-healing polymeric coating with reduced graphene oxide-reinforcement for sensors. Sensors and Actuators Reports, v. No 2021, p. 100059-1-100059-9 + supplementary materials, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.snr.2021.100059. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Ly, K. C. S., Jimenez, M. J. M., Cucatti, S., Volpati, D., Silva, M. de A. P. da, Shimizu, F. M., et al. (2021). Water enabled self-healing polymeric coating with reduced graphene oxide-reinforcement for sensors. Sensors and Actuators Reports, No 2021, 100059-1-100059-9 + supplementary materials. doi:10.1016/j.snr.2021.100059
NLM
Ly KCS, Jimenez MJM, Cucatti S, Volpati D, Silva M de AP da, Shimizu FM, Almeida TP, Rodrigues V, Silva JAF da, Alvarez F, Riul Junior A. Water enabled self-healing polymeric coating with reduced graphene oxide-reinforcement for sensors [Internet]. Sensors and Actuators Reports. 2021 ; No 2021 100059-1-100059-9 + supplementary materials.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.snr.2021.100059
Vancouver
Ly KCS, Jimenez MJM, Cucatti S, Volpati D, Silva M de AP da, Shimizu FM, Almeida TP, Rodrigues V, Silva JAF da, Alvarez F, Riul Junior A. Water enabled self-healing polymeric coating with reduced graphene oxide-reinforcement for sensors [Internet]. Sensors and Actuators Reports. 2021 ; No 2021 100059-1-100059-9 + supplementary materials.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.snr.2021.100059
Artigo de periodico
Voltammetric detection of ethinylestradiol in water and synthetic urine samples using a Ni(II) Phthalocyanine/iron oxide nanocomposite electrode (2021)
Ribeiro, Camila de L.; Souza, Jurandir R. de; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Paterno, Leonardo Giordano
Source: Electroanalysis. Unidades: IFSC, EP
Subjects: POLÍMEROS (MATERIAIS), FILMES FINOS, NANOPARTÍCULAS
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ABNT
RIBEIRO, Camila de L. et al. Voltammetric detection of ethinylestradiol in water and synthetic urine samples using a Ni(II) Phthalocyanine/iron oxide nanocomposite electrode. Electroanalysis, v. 33, n. 3, p. 609-617, 2021Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1002/elan.202060396. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Ribeiro, C. de L., Souza, J. R. de, Silva, M. de A. P. da, & Paterno, L. G. (2021). Voltammetric detection of ethinylestradiol in water and synthetic urine samples using a Ni(II) Phthalocyanine/iron oxide nanocomposite electrode. Electroanalysis, 33( 3), 609-617. doi:10.1002/elan.202060396
NLM
Ribeiro C de L, Souza JR de, Silva M de AP da, Paterno LG. Voltammetric detection of ethinylestradiol in water and synthetic urine samples using a Ni(II) Phthalocyanine/iron oxide nanocomposite electrode [Internet]. Electroanalysis. 2021 ; 33( 3): 609-617.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1002/elan.202060396
Vancouver
Ribeiro C de L, Souza JR de, Silva M de AP da, Paterno LG. Voltammetric detection of ethinylestradiol in water and synthetic urine samples using a Ni(II) Phthalocyanine/iron oxide nanocomposite electrode [Internet]. Electroanalysis. 2021 ; 33( 3): 609-617.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1002/elan.202060396
Trabalho de evento
Velocidade de cristalizacao de vidros de fluoretos (1995)
Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Mokross, Bernhard Joachim
Source: Anais. Conference titles: Simposio Nacional de Vidros. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da e MOKROSS, Bernhard Joachim. Velocidade de cristalizacao de vidros de fluoretos. 1995, Anais.. Águas de Lindóia: Aciesp, 1995. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Silva, M. de A. P. da, & Mokross, B. J. (1995). Velocidade de cristalizacao de vidros de fluoretos. In Anais. Águas de Lindóia: Aciesp.
NLM
Silva M de AP da, Mokross BJ. Velocidade de cristalizacao de vidros de fluoretos. Anais. 1995 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Silva M de AP da, Mokross BJ. Velocidade de cristalizacao de vidros de fluoretos. Anais. 1995 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Trabalho de evento-resumo
Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental (1993)
Goes, M F; Sinhoreti, M A C; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A
Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidade: IFSC
Assunto: ODONTOLOGIA SOCIAL
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ABNT
GOES, M F et al. Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Goes, M. F., Sinhoreti, M. A. C., Silva, M. de A. P. da, & Aegerter, M. A. (1993). Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. In . Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Goes MF, Sinhoreti MAC, Silva M de AP da, Aegerter MA. Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. 1993 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Goes MF, Sinhoreti MAC, Silva M de AP da, Aegerter MA. Utilizacao do microscopio eletronico de varredura na qualificacao do condicionamento acido do esmalte dental. 1993 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Trabalho de evento-resumo
Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20' (1993)
Lima, C J; Carvalho, J F; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Aegerter, M A; Andreeta, M R B; Hernandes, Antônio Carlos; Andreeta, José Pedro
Source: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. Conference titles: Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica. Unidades: IFQSC, IFSC
Assunto: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
LIMA, C J et al. Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. 1993, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 1993. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Lima, C. J., Carvalho, J. F., Silva, M. de A. P. da, Aegerter, M. A., Andreeta, M. R. B., Hernandes, A. C., & Andreeta, J. P. (1993). Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. In Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica.
NLM
Lima CJ, Carvalho JF, Silva M de AP da, Aegerter MA, Andreeta MRB, Hernandes AC, Andreeta JP. Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. 1993 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Lima CJ, Carvalho JF, Silva M de AP da, Aegerter MA, Andreeta MRB, Hernandes AC, Andreeta JP. Utilizacao do mev no estudo de figuras de ataque quimico em fibras monocristalinas de 'BI IND.12''TI''O IND.20'. Coloquio da Sociedade Brasileira de Microscopia Eletronica, 14. 1993 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Trabalho de evento-resumo
Universal diagonal and hall conductance fluctuations in a random magnetic field (1997)
Gusev, G M; Basmaji, Pierre; Kleber, X; Gennser, U; Maude, D K; Portal, J C; Lubyshev, D I; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Rossi, J C; Nastaushev, Y V
Source: Program and Abstracts. Conference titles: Brazilian Workshop on Semiconductor Physics. Unidade: IFSC
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GUSEV, G M et al. Universal diagonal and hall conductance fluctuations in a random magnetic field. 1997, Anais.. Águas de Lindóia: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 1997. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Gusev, G. M., Basmaji, P., Kleber, X., Gennser, U., Maude, D. K., Portal, J. C., et al. (1997). Universal diagonal and hall conductance fluctuations in a random magnetic field. In Program and Abstracts. Águas de Lindóia: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Gusev GM, Basmaji P, Kleber X, Gennser U, Maude DK, Portal JC, Lubyshev DI, Silva M de AP da, Rossi JC, Nastaushev YV. Universal diagonal and hall conductance fluctuations in a random magnetic field. Program and Abstracts. 1997 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Gusev GM, Basmaji P, Kleber X, Gennser U, Maude DK, Portal JC, Lubyshev DI, Silva M de AP da, Rossi JC, Nastaushev YV. Universal diagonal and hall conductance fluctuations in a random magnetic field. Program and Abstracts. 1997 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Artigo de periodico
Universal diagonal and Hall conductance fluctuations in a random magnetic field (1997)
Gusev, G M; Basmaji, Pierre; Gennser, U; Kleber, X; Maude, D K; Portal, J C; Lubyshev, D I; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Rossi, Jose Carlos; Nastaushev, Y V
Source: Brazilian Journal of Physics. Unidade: IFSC
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GUSEV, G M et al. Universal diagonal and Hall conductance fluctuations in a random magnetic field. Brazilian Journal of Physics, v. 27/A, n. 4, p. 219-222, 1997Tradução . . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Gusev, G. M., Basmaji, P., Gennser, U., Kleber, X., Maude, D. K., Portal, J. C., et al. (1997). Universal diagonal and Hall conductance fluctuations in a random magnetic field. Brazilian Journal of Physics, 27/A( 4), 219-222.
NLM
Gusev GM, Basmaji P, Gennser U, Kleber X, Maude DK, Portal JC, Lubyshev DI, Silva M de AP da, Rossi JC, Nastaushev YV. Universal diagonal and Hall conductance fluctuations in a random magnetic field. Brazilian Journal of Physics. 1997 ; 27/A( 4): 219-222.[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Gusev GM, Basmaji P, Gennser U, Kleber X, Maude DK, Portal JC, Lubyshev DI, Silva M de AP da, Rossi JC, Nastaushev YV. Universal diagonal and Hall conductance fluctuations in a random magnetic field. Brazilian Journal of Physics. 1997 ; 27/A( 4): 219-222.[citado 2024 abr. 16 ]
Trabalho de evento-resumo
Universal conductance fluctuations in a random magnetic field (1996)
Gusev, G M; Kleber, X; Gennser, U; Maude, D K; Portal, J C; Lubyshev, D I; Basmaji, Pierre; Silva, M P A; Rossi, J C; Nastaushev, Y V
Source: Abstract Workbook. Conference titles: International Conference on Superlattices, Microructures and Microdevices. Unidade: IFSC
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, SEMICONDUTORES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GUSEV, G M et al. Universal conductance fluctuations in a random magnetic field. 1996, Anais.. Liege: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 1996. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Gusev, G. M., Kleber, X., Gennser, U., Maude, D. K., Portal, J. C., Lubyshev, D. I., et al. (1996). Universal conductance fluctuations in a random magnetic field. In Abstract Workbook. Liege: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.
NLM
Gusev GM, Kleber X, Gennser U, Maude DK, Portal JC, Lubyshev DI, Basmaji P, Silva MPA, Rossi JC, Nastaushev YV. Universal conductance fluctuations in a random magnetic field. Abstract Workbook. 1996 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Gusev GM, Kleber X, Gennser U, Maude DK, Portal JC, Lubyshev DI, Basmaji P, Silva MPA, Rossi JC, Nastaushev YV. Universal conductance fluctuations in a random magnetic field. Abstract Workbook. 1996 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Artigo de periodico
Understanding the electronic properties of BaTiO3 and Er3+ doped BaTiO3 films through confocal scanning microscopy and XPS: the role of oxygen vacancies (2020)
Huaman, Jose Luis Clabel ; Awan, Iram Taj; Calderón, Gaston Lozano ; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Romano, Renan Arnon ; Rivera, V. A. G.; Ferreira, S. O. ; Marega Júnior, Euclydes
Source: Physical Chemistry Chemical Physics. Unidade: IFSC
Subjects: FERROELETRICIDADE, TITÂNIO, LUMINESCÊNCIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
HUAMAN, Jose Luis Clabel et al. Understanding the electronic properties of BaTiO3 and Er3+ doped BaTiO3 films through confocal scanning microscopy and XPS: the role of oxygen vacancies. Physical Chemistry Chemical Physics, v. 22, n. 26, p. 15022-15034, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1039/d0cp01010c. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Huaman, J. L. C., Awan, I. T., Calderón, G. L., Silva, M. de A. P. da, Romano, R. A., Rivera, V. A. G., et al. (2020). Understanding the electronic properties of BaTiO3 and Er3+ doped BaTiO3 films through confocal scanning microscopy and XPS: the role of oxygen vacancies. Physical Chemistry Chemical Physics, 22( 26), 15022-15034. doi:10.1039/d0cp01010c
NLM
Huaman JLC, Awan IT, Calderón GL, Silva M de AP da, Romano RA, Rivera VAG, Ferreira SO, Marega Júnior E. Understanding the electronic properties of BaTiO3 and Er3+ doped BaTiO3 films through confocal scanning microscopy and XPS: the role of oxygen vacancies [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2020 ; 22( 26): 15022-15034.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1039/d0cp01010c
Vancouver
Huaman JLC, Awan IT, Calderón GL, Silva M de AP da, Romano RA, Rivera VAG, Ferreira SO, Marega Júnior E. Understanding the electronic properties of BaTiO3 and Er3+ doped BaTiO3 films through confocal scanning microscopy and XPS: the role of oxygen vacancies [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2020 ; 22( 26): 15022-15034.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1039/d0cp01010c
Trabalho de evento-resumo
Understanding light emission and reflection in spherical submicron mirrors arrays by confocal microscopy (2015)
Spada, Edna Regina; Valente, Gustavo Targino; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Sartorelli, Maria Luisa; Faria, Roberto Mendonça; Guimarães, Francisco Eduardo Gontijo
Source: Proceedings. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC
Subjects: MICROSCOPIA CONFOCAL, FLUORESCÊNCIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SPADA, Edna Regina et al. Understanding light emission and reflection in spherical submicron mirrors arrays by confocal microscopy. 2015, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2015. Disponível em: http://www.eventweb.com.br/xivsbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=ARQY. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Spada, E. R., Valente, G. T., Silva, M. de A. P. da, Sartorelli, M. L., Faria, R. M., & Guimarães, F. E. G. (2015). Understanding light emission and reflection in spherical submicron mirrors arrays by confocal microscopy. In Proceedings. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat. Recuperado de http://www.eventweb.com.br/xivsbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=ARQY
NLM
Spada ER, Valente GT, Silva M de AP da, Sartorelli ML, Faria RM, Guimarães FEG. Understanding light emission and reflection in spherical submicron mirrors arrays by confocal microscopy [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2024 abr. 16 ] Available from: http://www.eventweb.com.br/xivsbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=ARQY
Vancouver
Spada ER, Valente GT, Silva M de AP da, Sartorelli ML, Faria RM, Guimarães FEG. Understanding light emission and reflection in spherical submicron mirrors arrays by confocal microscopy [Internet]. Proceedings. 2015 ;[citado 2024 abr. 16 ] Available from: http://www.eventweb.com.br/xivsbpmat/specific-files/grabFile.php?codigo=ARQY
Trabalho de evento
Uma ferramenta visual para analisar as imagens de microscopia de força atômica AFM (2011)
Valencia, Carolina Guillén; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Faria, Roberto Mendonça; Bruno, Odemir Martinez
Source: Anais do Workshop de Visão Computacional. Conference titles: Workshop de Visão Computacional - WVC. Unidade: IFSC
Subjects: PROCESSAMENTO DE IMAGENS, POLÍMEROS (MATERIAIS), MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, MICROSCOPIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
VALENCIA, Carolina Guillén et al. Uma ferramenta visual para analisar as imagens de microscopia de força atômica AFM. 2011, Anais.. São Paulo: Universidade Presbiteriana Mackenzie, Faculdade de Computação e Informática, 2011. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Valencia, C. G., Silva, M. de A. P. da, Faria, R. M., & Bruno, O. M. (2011). Uma ferramenta visual para analisar as imagens de microscopia de força atômica AFM. In Anais do Workshop de Visão Computacional. São Paulo: Universidade Presbiteriana Mackenzie, Faculdade de Computação e Informática.
NLM
Valencia CG, Silva M de AP da, Faria RM, Bruno OM. Uma ferramenta visual para analisar as imagens de microscopia de força atômica AFM. Anais do Workshop de Visão Computacional. 2011 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Valencia CG, Silva M de AP da, Faria RM, Bruno OM. Uma ferramenta visual para analisar as imagens de microscopia de força atômica AFM. Anais do Workshop de Visão Computacional. 2011 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Artigo de periodico
UV radiation: aggressive agent to the hair-AFM, a new methodology of evaluation (2003)
Monteiro, V. F.; Pinheiro, A. S.; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Leite, E. R.; Agnelli, J. A. M.; Longo, E.
Source: Journal of Cosmetic Science. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, RADIAÇÃO IONIZANTE, COSMÉTICOS, CABELO
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MONTEIRO, V. F. et al. UV radiation: aggressive agent to the hair-AFM, a new methodology of evaluation. Journal of Cosmetic Science, v. 54, n. 1/2, p. 271-281, 2003Tradução . . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Monteiro, V. F., Pinheiro, A. S., Silva, M. de A. P. da, Leite, E. R., Agnelli, J. A. M., & Longo, E. (2003). UV radiation: aggressive agent to the hair-AFM, a new methodology of evaluation. Journal of Cosmetic Science, 54( 1/2), 271-281.
NLM
Monteiro VF, Pinheiro AS, Silva M de AP da, Leite ER, Agnelli JAM, Longo E. UV radiation: aggressive agent to the hair-AFM, a new methodology of evaluation. Journal of Cosmetic Science. 2003 ; 54( 1/2): 271-281.[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Monteiro VF, Pinheiro AS, Silva M de AP da, Leite ER, Agnelli JAM, Longo E. UV radiation: aggressive agent to the hair-AFM, a new methodology of evaluation. Journal of Cosmetic Science. 2003 ; 54( 1/2): 271-281.[citado 2024 abr. 16 ]
Artigo de periodico
Titanium surface topography after brushing with fluoride and fluoride-free toothpaste simulating 10 years of use (2012)
Fais, Laiza M. G.; Fernandes-Filho, Romeu B.; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Vaz, Luís Geraldo ; Adabo, Gelson L.
Source: Journal of Dentistry. Unidade: IFSC
Assunto: FÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
FAIS, Laiza M. G. et al. Titanium surface topography after brushing with fluoride and fluoride-free toothpaste simulating 10 years of use. Journal of Dentistry, v. 40, n. 4, p. 265-275, 2012Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jdent.2012.01.001. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Fais, L. M. G., Fernandes-Filho, R. B., Silva, M. de A. P. da, Vaz, L. G., & Adabo, G. L. (2012). Titanium surface topography after brushing with fluoride and fluoride-free toothpaste simulating 10 years of use. Journal of Dentistry, 40( 4), 265-275. doi:10.1016/j.jdent.2012.01.001
NLM
Fais LMG, Fernandes-Filho RB, Silva M de AP da, Vaz LG, Adabo GL. Titanium surface topography after brushing with fluoride and fluoride-free toothpaste simulating 10 years of use [Internet]. Journal of Dentistry. 2012 ; 40( 4): 265-275.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jdent.2012.01.001
Vancouver
Fais LMG, Fernandes-Filho RB, Silva M de AP da, Vaz LG, Adabo GL. Titanium surface topography after brushing with fluoride and fluoride-free toothpaste simulating 10 years of use [Internet]. Journal of Dentistry. 2012 ; 40( 4): 265-275.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jdent.2012.01.001
Trabalho de evento-resumo
Thickness measurements of ultra-thin polymeric films using atomic force microscopy (1999)
Raposo, Maria; Lobo, Rui Filipe Marmont; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Faria, Roberto Mendonça; Oliveira Junior, Osvaldo Novais de
Source: Abstracts. Conference titles: Symposium of the Electrical, Optical and Magnetic Properties of Organic Solidate Materials. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RAPOSO, Maria et al. Thickness measurements of ultra-thin polymeric films using atomic force microscopy. 1999, Anais.. Boston: MRS, 1999. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Raposo, M., Lobo, R. F. M., Silva, M. de A. P. da, Faria, R. M., & Oliveira Junior, O. N. de. (1999). Thickness measurements of ultra-thin polymeric films using atomic force microscopy. In Abstracts. Boston: MRS.
NLM
Raposo M, Lobo RFM, Silva M de AP da, Faria RM, Oliveira Junior ON de. Thickness measurements of ultra-thin polymeric films using atomic force microscopy. Abstracts. 1999 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Raposo M, Lobo RFM, Silva M de AP da, Faria RM, Oliveira Junior ON de. Thickness measurements of ultra-thin polymeric films using atomic force microscopy. Abstracts. 1999 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Trabalho de evento
Thickness and roughness measurements in poly(o-methoxyaniline) layer-by-layer films using AFM (1999)
Raposo, Maria; Lobo, R F M; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Faria, Roberto Mendonça; Oliveira Junior, Osvaldo Novais de
Source: Proceedings. Conference titles: International Symposium on Electrets. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
RAPOSO, Maria et al. Thickness and roughness measurements in poly(o-methoxyaniline) layer-by-layer films using AFM. 1999, Anais.. Piscataway: IEEE, 1999. . Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Raposo, M., Lobo, R. F. M., Silva, M. de A. P. da, Faria, R. M., & Oliveira Junior, O. N. de. (1999). Thickness and roughness measurements in poly(o-methoxyaniline) layer-by-layer films using AFM. In Proceedings. Piscataway: IEEE.
NLM
Raposo M, Lobo RFM, Silva M de AP da, Faria RM, Oliveira Junior ON de. Thickness and roughness measurements in poly(o-methoxyaniline) layer-by-layer films using AFM. Proceedings. 1999 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Vancouver
Raposo M, Lobo RFM, Silva M de AP da, Faria RM, Oliveira Junior ON de. Thickness and roughness measurements in poly(o-methoxyaniline) layer-by-layer films using AFM. Proceedings. 1999 ;[citado 2024 abr. 16 ]
Artigo de periodico
Thermoluminescence, structural and magnetic properties of a 'Li IND.2'O-'B IND.2''O IND.3'-'Al IND.2''O IND.3' glass system doped with LiF and Ti'O IND.2' (2011)
Ayta, W. E. F.; Silva, V. A.; Cano, Nilo Francisco; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da ; Dantas, N. O.
Source: Journal of Luminescence. Unidade: IFSC
Subjects: RESSONÂNCIA PARAMAGNÉTICA ELETRÔNICA, RADIAÇÃO IONIZANTE, TERMOLUMINESCÊNCIA (PROPRIEDADES MAGNÉTICAS), VIDRO (PROPRIEDADES), TERMOLUMINESCÊNCIA
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ABNT
AYTA, W. E. F. et al. Thermoluminescence, structural and magnetic properties of a 'Li IND.2'O-'B IND.2''O IND.3'-'Al IND.2''O IND.3' glass system doped with LiF and Ti'O IND.2'. Journal of Luminescence, v. 131, n. 5, p. 1002-1006, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2011.01.011. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Ayta, W. E. F., Silva, V. A., Cano, N. F., Silva, M. de A. P. da, & Dantas, N. O. (2011). Thermoluminescence, structural and magnetic properties of a 'Li IND.2'O-'B IND.2''O IND.3'-'Al IND.2''O IND.3' glass system doped with LiF and Ti'O IND.2'. Journal of Luminescence, 131( 5), 1002-1006. doi:10.1016/j.jlumin.2011.01.011
NLM
Ayta WEF, Silva VA, Cano NF, Silva M de AP da, Dantas NO. Thermoluminescence, structural and magnetic properties of a 'Li IND.2'O-'B IND.2''O IND.3'-'Al IND.2''O IND.3' glass system doped with LiF and Ti'O IND.2' [Internet]. Journal of Luminescence. 2011 ; 131( 5): 1002-1006.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2011.01.011
Vancouver
Ayta WEF, Silva VA, Cano NF, Silva M de AP da, Dantas NO. Thermoluminescence, structural and magnetic properties of a 'Li IND.2'O-'B IND.2''O IND.3'-'Al IND.2''O IND.3' glass system doped with LiF and Ti'O IND.2' [Internet]. Journal of Luminescence. 2011 ; 131( 5): 1002-1006.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2011.01.011
Artigo de periodico
Thermal diffusivity of a SNAB glass system doped with CdS nanocrystals and 'Nd POT.3+' (2011)
Serqueira, E. O.; Dantas, N. O.; Silva, G. H.; Anjos, V.; Bell, M. J. V.; Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da
Source: Chemical Physics Letters. Unidade: IFSC
Subjects: VIDRO, SEMICONDUTORES, TERRAS RARAS, ENERGIA (TRANSFERÊNCIA), LASER
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SERQUEIRA, E. O. et al. Thermal diffusivity of a SNAB glass system doped with CdS nanocrystals and 'Nd POT.3+'. Chemical Physics Letters, v. 504, n. 1/3, p. 67-70, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.cplett.2011.01.057. Acesso em: 16 abr. 2024.
APA
Serqueira, E. O., Dantas, N. O., Silva, G. H., Anjos, V., Bell, M. J. V., & Silva, M. de A. P. da. (2011). Thermal diffusivity of a SNAB glass system doped with CdS nanocrystals and 'Nd POT.3+'. Chemical Physics Letters, 504( 1/3), 67-70. doi:10.1016/j.cplett.2011.01.057
NLM
Serqueira EO, Dantas NO, Silva GH, Anjos V, Bell MJV, Silva M de AP da. Thermal diffusivity of a SNAB glass system doped with CdS nanocrystals and 'Nd POT.3+' [Internet]. Chemical Physics Letters. 2011 ; 504( 1/3): 67-70.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.cplett.2011.01.057
Vancouver
Serqueira EO, Dantas NO, Silva GH, Anjos V, Bell MJV, Silva M de AP da. Thermal diffusivity of a SNAB glass system doped with CdS nanocrystals and 'Nd POT.3+' [Internet]. Chemical Physics Letters. 2011 ; 504( 1/3): 67-70.[citado 2024 abr. 16 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.cplett.2011.01.057

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