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Trabalho de evento-resumo
Propriedades magnéticas de filmes finos de CoCrTa e CoCrPt depositados sobre substrato de C (2000)
Schoenmaker, Jeroen; Oppenheim, Ivette Frida Cymbaum; Chinaglia, Eliane F.
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum e CHINAGLIA, Eliane F. Propriedades magnéticas de filmes finos de CoCrTa e CoCrPt depositados sobre substrato de C. 2000, Anais.. São Paulo: SBF, 2000. . Acesso em: 18 jun. 2024.
APA
Schoenmaker, J., Oppenheim, I. F. C., & Chinaglia, E. F. (2000). Propriedades magnéticas de filmes finos de CoCrTa e CoCrPt depositados sobre substrato de C. In Resumos. São Paulo: SBF.
NLM
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Propriedades magnéticas de filmes finos de CoCrTa e CoCrPt depositados sobre substrato de C. Resumos. 2000 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Vancouver
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Propriedades magnéticas de filmes finos de CoCrTa e CoCrPt depositados sobre substrato de C. Resumos. 2000 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Trabalho de evento-resumo
Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr (1999)
Chinaglia, Eliane F.; Oppenheim, Ivette Frida Cymbaum; Kleinke, Mauricio U.
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
CHINAGLIA, Eliane F. e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum e KLEINKE, Mauricio U. Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr. 1999, Anais.. São Paulo: SBF, 1999. . Acesso em: 18 jun. 2024.
APA
Chinaglia, E. F., Oppenheim, I. F. C., & Kleinke, M. U. (1999). Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr. In Resumos. São Paulo: SBF.
NLM
Chinaglia EF, Oppenheim IFC, Kleinke MU. Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr. Resumos. 1999 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Vancouver
Chinaglia EF, Oppenheim IFC, Kleinke MU. Análise nanoestrutural de filmes finos de Zr. Resumos. 1999 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Trabalho de evento-resumo
Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering (1999)
Schoenmaker, Jeroen; Oppenheim, Ivette Frida Cymbaum; Chinaglia, Eliane F.
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SCHOENMAKER, Jeroen e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum e CHINAGLIA, Eliane F. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. 1999, Anais.. São Paulo: SBF, 1999. . Acesso em: 18 jun. 2024.
APA
Schoenmaker, J., Oppenheim, I. F. C., & Chinaglia, E. F. (1999). Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. In Resumos. São Paulo: SBF.
NLM
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Resumos. 1999 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Vancouver
Schoenmaker J, Oppenheim IFC, Chinaglia EF. Estudo da textura de filmes finos de Cr depositados por sputtering. Resumos. 1999 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Trabalho de evento-resumo
Caracterização nanoestrutural de filmes finos de Ti, Zr e Hf (1998)
Chinaglia, Eliane F.; Oppenheim, Ivette Frida Cymbaum
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
CHINAGLIA, Eliane F. e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum. Caracterização nanoestrutural de filmes finos de Ti, Zr e Hf. 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 18 jun. 2024.
APA
Chinaglia, E. F., & Oppenheim, I. F. C. (1998). Caracterização nanoestrutural de filmes finos de Ti, Zr e Hf. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Caracterização nanoestrutural de filmes finos de Ti, Zr e Hf. Resumos. 1998 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Vancouver
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Caracterização nanoestrutural de filmes finos de Ti, Zr e Hf. Resumos. 1998 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Trabalho de evento-resumo
Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM) (1998)
Chinaglia, Eliane F.; Oppenheim, Ivette Frida Cymbaum
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
CHINAGLIA, Eliane F. e OPPENHEIM, Ivette Frida Cymbaum. Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 1998. . Acesso em: 18 jun. 2024.
APA
Chinaglia, E. F., & Oppenheim, I. F. C. (1998). Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). Resumos. 1998 ;[citado 2024 jun. 18 ]
Vancouver
Chinaglia EF, Oppenheim IFC. Metodologia de operação e artefatos em microscopia de força atômica (AFM). Resumos. 1998 ;[citado 2024 jun. 18 ]

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