Subjects: PROCESSAMENTO DIGITAL DE IMAGENS, MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA, GRANULOMETRIA, SILÍCIO
ABNT
MARUTA, Ricardo Hitoshi. Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício. 2011. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2011. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/. Acesso em: 20 abr. 2024.APA
Maruta, R. H. (2011). Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/NLM
Maruta RH. Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício [Internet]. 2011 ;[citado 2024 abr. 20 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/Vancouver
Maruta RH. Um novo algoritmo de granulometria com aplicação em caracterização de nanoestruturas de silício [Internet]. 2011 ;[citado 2024 abr. 20 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-12122011-145321/