Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x (1985)
Unidade: IFAssunto: DIFRAÇÃO POR RAIOS X
ABNT
CARVALHO, Carlos Alberto Martins de. Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x. 1985. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1985. . Acesso em: 28 mar. 2024.APA
Carvalho, C. A. M. de. (1985). Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.NLM
Carvalho CAM de. Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x. 1985 ;[citado 2024 mar. 28 ]Vancouver
Carvalho CAM de. Determinação de deformações superficiais em monocristais de silicio por difração de raios x. 1985 ;[citado 2024 mar. 28 ]