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Artigo de periodico
Addition of molybdate ions to the anodizing bath to improve the corrosion resistance of clad 2024-T3 alloy anodized in tartaric-sulfuric acid (2024)
Almeida, Thassia Felix de; Ramirez, Oscar Mauricio Prada ; Lanzutti, Alex; Rodrigues, Cleber Lima ; Brabetz, Manfred; Kremmer, Thomas M; Hammer, Peter ; Melo, Hercílio Gomes de
Source: Surface & Coatings Technology. Unidade: EP
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, ANODIZAÇÃO, ÁCIDO SULFÚRICO, ELETROQUÍMICA
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ABNT
ALMEIDA, Thassia Felix de et al. Addition of molybdate ions to the anodizing bath to improve the corrosion resistance of clad 2024-T3 alloy anodized in tartaric-sulfuric acid. Surface & Coatings Technology, v. 482, p. 10 , 2024Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2024.130682. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Almeida, T. F. de, Ramirez, O. M. P., Lanzutti, A., Rodrigues, C. L., Brabetz, M., Kremmer, T. M., et al. (2024). Addition of molybdate ions to the anodizing bath to improve the corrosion resistance of clad 2024-T3 alloy anodized in tartaric-sulfuric acid. Surface & Coatings Technology, 482, 10 . doi:https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2024.130682
NLM
Almeida TF de, Ramirez OMP, Lanzutti A, Rodrigues CL, Brabetz M, Kremmer TM, Hammer P, Melo HG de. Addition of molybdate ions to the anodizing bath to improve the corrosion resistance of clad 2024-T3 alloy anodized in tartaric-sulfuric acid [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2024 ; 482 10 .[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2024.130682
Vancouver
Almeida TF de, Ramirez OMP, Lanzutti A, Rodrigues CL, Brabetz M, Kremmer TM, Hammer P, Melo HG de. Addition of molybdate ions to the anodizing bath to improve the corrosion resistance of clad 2024-T3 alloy anodized in tartaric-sulfuric acid [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2024 ; 482 10 .[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2024.130682
Trabalho de evento-resumo
PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA (2022)
Rodrigues, Cleber Lima ; Silva, Tiago Fiorini da ; Saramela, Thiago Badaró ; Tabacniks, Manfredo Harri
Source: Resumos. Conference titles: INCT-FNA Symposium- Institute of Physics. Unidade: IF
Assunto: RAIOS X
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ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA. 2022, Anais.. São Paulo: Universidade Federal Fluminese, 2022. Disponível em: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Silva, T. F. da, Saramela, T. B., & Tabacniks, M. H. (2022). PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA. In Resumos. São Paulo: Universidade Federal Fluminese. Recuperado de https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
NLM
Rodrigues CL, Silva TF da, Saramela TB, Tabacniks MH. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA [Internet]. Resumos. 2022 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Silva TF da, Saramela TB, Tabacniks MH. PIXESim: self consistent analyses of RBS and PIXE data in MultiSIMNRA [Internet]. Resumos. 2022 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://inct-fna.if.uff.br/symposium2022/wp-content/uploads/sites/4/2022/11/Poster_Session.pdf
Relatorio tecnico
Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation (2022)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Saramela, Thiago Badaró ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Subjects: BIG DATA, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 24 maio 2024. , 2022
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Saramela, T. B., & Tabacniks, M. H. (2022). Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
NLM
Silva TF da, Rodrigues CL, Saramela TB, Tabacniks MH. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation [Internet]. 2022 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues CL, Saramela TB, Tabacniks MH. Ion beam analysis and big data: how data science can support next-generation instrumentation [Internet]. 2022 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Relatorio tecnico
Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks (2022)
Guimarães, Renato dos Santos ; Bach, Simon; Burwitz, Vassily V.; Hiret, Paul; Mayer, Matej; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Subjects: ESPECTROSCOPIA, REDES NEURAIS
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ABNT
GUIMARÃES, Renato dos Santos et al. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf. Acesso em: 24 maio 2024. , 2022
APA
Guimarães, R. dos S., Bach, S., Burwitz, V. V., Hiret, P., Mayer, M., Silva, T. F. da, et al. (2022). Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
NLM
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Vancouver
Guimarães R dos S, Bach S, Burwitz VV, Hiret P, Mayer M, Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Processing of massive rutherford back-scattering spectrometry data by artificial neural networks [Internet]. 2022 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/2205/2205.05680.pdf
Relatorio tecnico
Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques (2021)
Silva, T. F.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri
Unidade: IF
Subjects: ÍONS, ESPECTROMETRIA
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ABNT
SILVA, T. F. et al. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf. Acesso em: 24 maio 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., & Tabacniks, M. H. (2021). Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
NLM
Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
Vancouver
Silva TF, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH. Bias and synergy in the self-consistent approach of data analysis of ion beam techniques [Internet]. 2021 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2111.13298.pdf
Relatorio tecnico
Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization (2021)
Silva, T. F.; Höschen, T.; Toussaint, U. von; Mayer, M.; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Added, Nemitala ; Rizzutto, Márcia de Almeida
Unidade: IF
Subjects: ÍONS, SIMULAÇÃO
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ABNT
SILVA, T. F. et al. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf. Acesso em: 24 maio 2024. , 2021
APA
Silva, T. F., Höschen, T., Toussaint, U. von, Mayer, M., Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., et al. (2021). Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
NLM
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Vancouver
Silva TF, Höschen T, Toussaint U von, Mayer M, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Added N, Rizzutto M de A. Self-consistent ion beam analysis: an approach by multi-objective optimization [Internet]. 2021 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://arxiv.org/pdf/2108.01498.pdf
Artigo de periodico
Tartaric-sulphuric acid anodized clad AA2024-T3 post-treated in Ce-containing solutions at different temperatures: Corrosion behaviour and Ce ions distribution (2020)
Ramirez, Oscar Mauricio Prada ; Queiroz, Fernanda Martins ; Tunes, Matheus Araujo ; Antunes, Renato Altobelli; Rodrigues, Cleber Lima ; Lanzutti, Alex; Pogatscher, Stefan; Olivier, Marie-Georges Marjorie ; Melo, Hercílio Gomes de
Source: Applied Surface Science. Unidades: IF, EP
Subjects: TEMPERATURA, ÍONS, ELETROQUÍMICA, ESPECTROSCOPIA
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ABNT
RAMIREZ, Oscar Mauricio Prada et al. Tartaric-sulphuric acid anodized clad AA2024-T3 post-treated in Ce-containing solutions at different temperatures: Corrosion behaviour and Ce ions distribution. Applied Surface Science, v. 534, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.147634. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Ramirez, O. M. P., Queiroz, F. M., Tunes, M. A., Antunes, R. A., Rodrigues, C. L., Lanzutti, A., et al. (2020). Tartaric-sulphuric acid anodized clad AA2024-T3 post-treated in Ce-containing solutions at different temperatures: Corrosion behaviour and Ce ions distribution. Applied Surface Science, 534. doi:10.1016/j.apsusc.2020.147634
NLM
Ramirez OMP, Queiroz FM, Tunes MA, Antunes RA, Rodrigues CL, Lanzutti A, Pogatscher S, Olivier M-GM, Melo HG de. Tartaric-sulphuric acid anodized clad AA2024-T3 post-treated in Ce-containing solutions at different temperatures: Corrosion behaviour and Ce ions distribution [Internet]. Applied Surface Science. 2020 ; 534[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.147634
Vancouver
Ramirez OMP, Queiroz FM, Tunes MA, Antunes RA, Rodrigues CL, Lanzutti A, Pogatscher S, Olivier M-GM, Melo HG de. Tartaric-sulphuric acid anodized clad AA2024-T3 post-treated in Ce-containing solutions at different temperatures: Corrosion behaviour and Ce ions distribution [Internet]. Applied Surface Science. 2020 ; 534[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.147634
Artigo de periodico
Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation (2020)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Pereira, Hugo David Costa; Saramela, Thiago Badaró ; Guimarães, Renato Oliveira
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Subjects: ÍONS, INTELIGÊNCIA ARTIFICIAL
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 478, p. 111-115, 2020Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Tabacniks, M. H., Pereira, H. D. C., Saramela, T. B., & Guimarães, R. O. (2020). Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 478, 111-115. doi:10.1016/j.nimb.2020.05.027
NLM
Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Pereira HDC, Saramela TB, Guimarães RO. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2020 ; 478 111-115.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues CL, Tabacniks MH, Pereira HDC, Saramela TB, Guimarães RO. Ion beam analysis and big data: How data science can support next-generation instrumentation [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2020 ; 478 111-115.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2020.05.027
Trabalho de evento-resumo
Effect of unipolar resistive switching on Pt/Co0.2TiO3.2/ITO thin films (2019)
Góis, Meirielle M; Valença, Eduardo; Machado, Rogerio; Macêdo, Marcelo A; Lopez, Elvis O; Mello, Alexandre; Rodrigues, Cleber Lima
Source: Abstracts. Conference titles: Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física - EOSBF. Unidade: IF
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
GÓIS, Meirielle M et al. Effect of unipolar resistive switching on Pt/Co0.2TiO3.2/ITO thin films. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2019. . Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Góis, M. M., Valença, E., Machado, R., Macêdo, M. A., Lopez, E. O., Mello, A., & Rodrigues, C. L. (2019). Effect of unipolar resistive switching on Pt/Co0.2TiO3.2/ITO thin films. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF.
NLM
Góis MM, Valença E, Machado R, Macêdo MA, Lopez EO, Mello A, Rodrigues CL. Effect of unipolar resistive switching on Pt/Co0.2TiO3.2/ITO thin films. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 24 ]
Vancouver
Góis MM, Valença E, Machado R, Macêdo MA, Lopez EO, Mello A, Rodrigues CL. Effect of unipolar resistive switching on Pt/Co0.2TiO3.2/ITO thin films. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 24 ]
Trabalho de evento-resumo
News from the LAMFI (2019)
Tabacniks, Manfredo Harri ; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima
Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Subjects: ÍONS, FLUORESCÊNCIA
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ABNT
TABACNIKS, Manfredo Harri e SILVA, Tiago Fiorini da e RODRIGUES, Cleber Lima. News from the LAMFI. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Tabacniks, M. H., Silva, T. F. da, & Rodrigues, C. L. (2019). News from the LAMFI. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Tabacniks MH, Silva TF da, Rodrigues CL. News from the LAMFI. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 24 ]
Vancouver
Tabacniks MH, Silva TF da, Rodrigues CL. News from the LAMFI. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 24 ]
Trabalho de evento-resumo
Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices (2019)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Medina, Nilberto Heder ; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Allegro, Paula Rangel Pestana; Escudeiro, Rafael; Santos, Hellen Cristine dos ; Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima ; Leite, Alisson Rodolfo; Santos, Osvaldo Camargo Botelho dos
Source: Abstracts. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: RADIAÇÃO IONIZANTE
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ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. 2019, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2019. . Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Alberton, S. G. P. N., Scarduelli, V. B., et al. (2019). Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. In Abstracts. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 24 ]
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Allegro PRP, Escudeiro R, Santos HC dos, Silva TF da, Rodrigues CL, Leite AR, Santos OCB dos. Structural aspects of ion-induced charge collection and single-event cross-section on electronic devices. Abstracts. 2019 ;[citado 2024 maio 24 ]
Artigo de periodico
On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas (2019)
Shaw, Santosh; Silva, Tiago Fiorini da ; Mohapatra, Pratyasha; Mendivelso-Perez, Deyny; Tian, Xinchun; Naab, Fabian; Rodrigues, Cleber Lima; Smith, Emily A. ; Cademartiri, Ludovico
Source: Physical Chemistry Chemical Physics. Unidade: IF
Subjects: FEIXES, ESPALHAMENTO, FÍSICA NUCLEAR, FÍSICA DE PLASMAS, NANOPARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SHAW, Santosh et al. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas. Physical Chemistry Chemical Physics, v. 21, n. 3, p. 1614--1622, 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Shaw, S., Silva, T. F. da, Mohapatra, P., Mendivelso-Perez, D., Tian, X., Naab, F., et al. (2019). On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas. Physical Chemistry Chemical Physics, 21( 3), 1614--1622. doi:10.1039/c8cp06890a
NLM
Shaw S, Silva TF da, Mohapatra P, Mendivelso-Perez D, Tian X, Naab F, Rodrigues CL, Smith EA, Cademartiri L. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2019 ; 21( 3): 1614--1622.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a
Vancouver
Shaw S, Silva TF da, Mohapatra P, Mendivelso-Perez D, Tian X, Naab F, Rodrigues CL, Smith EA, Cademartiri L. On the kinetics of the removal of ligands from films of colloidal nanocrystals by plasmas [Internet]. Physical Chemistry Chemical Physics. 2019 ; 21( 3): 1614--1622.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1039/c8cp06890a
Artigo de periodico
Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV (2019)
Santos, O C B; Vanin, Vito Roberto ; Maidana, Nora Lia ; Martins, Marcos Nogueira ; Tabacniks, Manfredo Harri ; Rodrigues, Cleber Lima ; Silva, T F; Santos, Antonio Domingues dos
Source: Physical Review A. Unidade: IF
Assunto: ELÉTRONS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SANTOS, O C B et al. Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV. Physical Review A, v. 100, p. 022703(9), 2019Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/PhysRevA.100.022703. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Santos, O. C. B., Vanin, V. R., Maidana, N. L., Martins, M. N., Tabacniks, M. H., Rodrigues, C. L., et al. (2019). Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV. Physical Review A, 100, 022703(9). doi:10.1103/PhysRevA.100.022703
NLM
Santos OCB, Vanin VR, Maidana NL, Martins MN, Tabacniks MH, Rodrigues CL, Silva TF, Santos AD dos. Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV [Internet]. Physical Review A. 2019 ;100 022703(9).[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevA.100.022703
Vancouver
Santos OCB, Vanin VR, Maidana NL, Martins MN, Tabacniks MH, Rodrigues CL, Silva TF, Santos AD dos. Experimental and theoretical cross sections for K -shell ionization of 52 Te, 73 Ta, and 83 Bi by electrons with energies up to 100 keV [Internet]. Physical Review A. 2019 ;100 022703(9).[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1103/PhysRevA.100.022703
Trabalho de evento-resumo
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, Alisson Rodolfo; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, Rafael; Allegro, Paula Rangel Pestana; Santos, Hellen Cristine dos; Alberton, Saulo Gabriel Pereira Nascimento; Scarduelli, Valdir Brunetti; Silveira, Marcilei Aparecida Guazzelli da; Melo, M A A de; Santos, R B B; Giacomini, Renato; Oliveira, J A; Leite, F G H
Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, ÍONS PESADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: SBF, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Macchione, E. L. A., Leite, A. R., Silva, T. F. da, et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Abstracts. São Paulo: SBF. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC dos, Alberton SGPN, Scarduelli VB, Silveira MAG da, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Abstracts. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/sys/resumos/R0013-1.pdf
Artigo de periodico
'AL' IND. 2''O' IND. 3' thin film multilayer structure for application in RRAM devices (2018)
Rodrigues, A. N.; Santos, Y. P.; Macedo, M. A.; Rodrigues, Cleber Lima
Source: Solid-State Electronics. Unidade: IF
Subjects: LASER, FÍSICA NUCLEAR, ÍONS
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ABNT
RODRIGUES, A. N. et al. 'AL' IND. 2''O' IND. 3' thin film multilayer structure for application in RRAM devices. Solid-State Electronics, v. no 2018, p. 1-5, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.sse.2018.08.004. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Rodrigues, A. N., Santos, Y. P., Macedo, M. A., & Rodrigues, C. L. (2018). 'AL' IND. 2''O' IND. 3' thin film multilayer structure for application in RRAM devices. Solid-State Electronics, no 2018, 1-5. doi:10.1016/j.sse.2018.08.004
NLM
Rodrigues AN, Santos YP, Macedo MA, Rodrigues CL. 'AL' IND. 2''O' IND. 3' thin film multilayer structure for application in RRAM devices [Internet]. Solid-State Electronics. 2018 ; no 2018 1-5.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2018.08.004
Vancouver
Rodrigues AN, Santos YP, Macedo MA, Rodrigues CL. 'AL' IND. 2''O' IND. 3' thin film multilayer structure for application in RRAM devices [Internet]. Solid-State Electronics. 2018 ; no 2018 1-5.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.sse.2018.08.004
Artigo de periodico
Ionization cross sections of the 'AU' L subshells by electron impact from the 'L IND. 3' threshold to 100 keV (2018)
Barros, Suelen Fernandes de; Fernandez-Varea, Jose M; Koskinas, Marina F.; Garcia-Alvarez, Juan A.; Santos, Osvaldo C. B.; Vanin, Vito Roberto; Maidana, Nora Lia; Martins, Marcos Nogueira; Rodrigues, Cleber Lima
Source: Journal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics. Unidade: IF
Subjects: MÉTODO DE MONTE CARLO, ELÉTRONS, SIMULAÇÃO
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ABNT
BARROS, Suelen Fernandes de et al. Ionization cross sections of the 'AU' L subshells by electron impact from the 'L IND. 3' threshold to 100 keV. Journal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics, v. 51, n. ja 2018, p. 025201, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/1361-6455/aa98d3. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Barros, S. F. de, Fernandez-Varea, J. M., Koskinas, M. F., Garcia-Alvarez, J. A., Santos, O. C. B., Vanin, V. R., et al. (2018). Ionization cross sections of the 'AU' L subshells by electron impact from the 'L IND. 3' threshold to 100 keV. Journal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics, 51( ja 2018), 025201. doi:10.1088/1361-6455/aa98d3
NLM
Barros SF de, Fernandez-Varea JM, Koskinas MF, Garcia-Alvarez JA, Santos OCB, Vanin VR, Maidana NL, Martins MN, Rodrigues CL. Ionization cross sections of the 'AU' L subshells by electron impact from the 'L IND. 3' threshold to 100 keV [Internet]. Journal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics. 2018 ; 51( ja 2018): 025201.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1361-6455/aa98d3
Vancouver
Barros SF de, Fernandez-Varea JM, Koskinas MF, Garcia-Alvarez JA, Santos OCB, Vanin VR, Maidana NL, Martins MN, Rodrigues CL. Ionization cross sections of the 'AU' L subshells by electron impact from the 'L IND. 3' threshold to 100 keV [Internet]. Journal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics. 2018 ; 51( ja 2018): 025201.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1088/1361-6455/aa98d3
Trabalho de evento-resumo
Passivation layer and charge collection depth in electronic devices (2018)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Leite, A. R.; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima; Escudeiro, R.; Allegro, P. R. P.; Santos, H. C.; Alberton, S. G.; Scarduelli, V. B.; Silveira, M. A. G.; Melo, M. A. A. de; Santos, R. B. B.; Giacomini, R.; Oliveira, J. A.; Leite, F. G. H.; Sayeg, Isaac Jamil
Source: Resumos. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidades: IF, IGC
Subjects: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS PESADOS
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ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, Macchione, E. L. A., Leite, A. R., et al. (2018). Passivation layer and charge collection depth in electronic devices. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
NLM
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Vancouver
Aguiar VÂP de, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Macchione ELA, Leite AR, Silva TF da, Rodrigues CL, Escudeiro R, Allegro PRP, Santos HC, Alberton SG, Scarduelli VB, Silveira MAG, Melo MAA de, Santos RBB, Giacomini R, Oliveira JA, Leite FGH, Sayeg IJ. Passivation layer and charge collection depth in electronic devices [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Artigo de periodico
Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas (2018)
Shaw, Santosh; Tian, Xinchun; Silva, Tiago Fiorini da; Bobbitt, Jonathan M.; Naab, Fabian; Smith, Emily A.; Cademartiri, Ludovico; Rodrigues, Cleber Lima
Source: Chemistry of Materials. Unidade: IF
Subjects: RAIOS X, ESPECTROMETRIA, FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
SHAW, Santosh et al. Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas. Chemistry of Materials, v. 30, n. 17, p. 5961-5967, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02095. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Shaw, S., Tian, X., Silva, T. F. da, Bobbitt, J. M., Naab, F., Smith, E. A., et al. (2018). Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas. Chemistry of Materials, 30( 17), 5961-5967. doi:10.1021/acs.chemmater.8b02095
NLM
Shaw S, Tian X, Silva TF da, Bobbitt JM, Naab F, Smith EA, Cademartiri L, Rodrigues CL. Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas [Internet]. Chemistry of Materials. 2018 ; 30( 17): 5961-5967.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02095
Vancouver
Shaw S, Tian X, Silva TF da, Bobbitt JM, Naab F, Smith EA, Cademartiri L, Rodrigues CL. Selective removal of ligands from colloidal nanocrystal assemblies with non-oxidizing 'HE' plasmas [Internet]. Chemistry of Materials. 2018 ; 30( 17): 5961-5967.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02095
Artigo de periodico
Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications (2018)
Silva, Tiago Fiorini da ; Rodrigues, Cleber Lima; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri ; Mangiarotti, Alessio ; Curado, Jessica Fleury; Aguirre, Fernando Rodrigues; Aguero, Natasha Fioretto; Allegro, Paula Rangel Pestana ; Campos, Pedro Herzilio Ottoni Viviani de ; Restrepo Arteta, Juan Manuel; Trindade, Gustavo Ferraz; Rodrigues, Antonio Marcos; Assis, Renan Ferreira de; Leite, Alisson Rodolfo
Source: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Unidade: IF
Subjects: FEIXES, LABORATÓRIOS, FÍSICA EXPERIMENTAL
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ABNT
SILVA, Tiago Fiorini da et al. Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, v. 422, p. 68-77, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.03.006. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Silva, T. F. da, Rodrigues, C. L., Added, N., Rizzutto, M. de A., Tabacniks, M. H., Mangiarotti, A., et al. (2018). Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 422, 68-77. doi:10.1016/j.nimb.2018.03.006
NLM
Silva TF da, Rodrigues CL, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH, Mangiarotti A, Curado JF, Aguirre FR, Aguero NF, Allegro PRP, Campos PHOV de, Restrepo Arteta JM, Trindade GF, Rodrigues AM, Assis RF de, Leite AR. Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2018 ;422 68-77.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.03.006
Vancouver
Silva TF da, Rodrigues CL, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH, Mangiarotti A, Curado JF, Aguirre FR, Aguero NF, Allegro PRP, Campos PHOV de, Restrepo Arteta JM, Trindade GF, Rodrigues AM, Assis RF de, Leite AR. Elemental mapping of large samples by external ion beam analysis with sub-millimeter resolution and its applications [Internet]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 2018 ;422 68-77.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2018.03.006
Artigo de periodico
Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2' (2017)
Shaw, Santosh; Bobbitt, Jonathan M.; Naab, Fabian; Yuan, Bin; Chang, Julia J.; Tian, Xinchun; Smith, Emily A.; Cademartiri, Ludovico; Silva, Tiago Fiorini da; Rodrigues, Cleber Lima
Source: CHEMISTRY OF MATERIALS. Unidade: IF
Subjects: TERMODINÂMICA, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SHAW, Santosh et al. Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2'. CHEMISTRY OF MATERIALS, v. 29, n. 18, p. 7888-7900, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.7b02769. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Shaw, S., Bobbitt, J. M., Naab, F., Yuan, B., Chang, J. J., Tian, X., et al. (2017). Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2'. CHEMISTRY OF MATERIALS, 29( 18), 7888-7900. doi:10.1021/acs.chemmater.7b02769
NLM
Shaw S, Bobbitt JM, Naab F, Yuan B, Chang JJ, Tian X, Smith EA, Cademartiri L, Silva TF da, Rodrigues CL. Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2' [Internet]. CHEMISTRY OF MATERIALS. 2017 ; 29( 18): 7888-7900.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.7b02769
Vancouver
Shaw S, Bobbitt JM, Naab F, Yuan B, Chang JJ, Tian X, Smith EA, Cademartiri L, Silva TF da, Rodrigues CL. Building materials from colloidal nanocrystal assemblies: molecular control of solid/solid interfaces in nanostructured tetragonal 'ZR''O' IND. 2' [Internet]. CHEMISTRY OF MATERIALS. 2017 ; 29( 18): 7888-7900.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.7b02769

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