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Trabalho de evento-resumo
Ionizing radiation effect mechanisms in electronic devices: how and what to measure (2015)
Silveira, M. A. G.; Leite, F.; Araújo, N. E.; Cirne, Karin Huscher; Melo, M. A. A.; Rallo, A.; Santos, R. B. B.; Vargas, F.; Added, Nemitala; Medina, Nilberto Heder
Fonte: SBF. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, COLISÕES
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SILVEIRA, M. A. G. et al. Ionizing radiation effect mechanisms in electronic devices: how and what to measure. 2015, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2015. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=7. Acesso em: 07 nov. 2024.
APA
Silveira, M. A. G., Leite, F., Araújo, N. E., Cirne, K. H., Melo, M. A. A., Rallo, A., et al. (2015). Ionizing radiation effect mechanisms in electronic devices: how and what to measure. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=7
NLM
Silveira MAG, Leite F, Araújo NE, Cirne KH, Melo MAA, Rallo A, Santos RBB, Vargas F, Added N, Medina NH. Ionizing radiation effect mechanisms in electronic devices: how and what to measure [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 nov. 07 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=7
Vancouver
Silveira MAG, Leite F, Araújo NE, Cirne KH, Melo MAA, Rallo A, Santos RBB, Vargas F, Added N, Medina NH. Ionizing radiation effect mechanisms in electronic devices: how and what to measure [Internet]. SBF. 2015 ;[citado 2024 nov. 07 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxviii/programa/trabalhos.asp?sesId=7
Trabalho de evento-resumo
Single event effects studies on 3N163 MOSFET (2014)
Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de ; Seixas Jr, L.E.; Silveira, M.A.G.; Santos, R.B.; Melo, M.A.A.; Giacomini, R.; Leite, F.G.; Cunha, F.G.; Oliveira, J.A.; Rallo, A.; Macchione, Eduardo Luiz Augusto ; Aguirre, Fernando Rodrigues; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala
Fonte: SBF. Nome do evento: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assuntos: FÍSICA NUCLEAR, ACELERADOR DE PARTÍCULAS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
AGUIAR, Vitor Ângelo Paulino de et al. Single event effects studies on 3N163 MOSFET. 2014, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf. Acesso em: 07 nov. 2024.
APA
Aguiar, V. Â. P. de, Seixas Jr, L. E., Silveira, M. A. G., Santos, R. B., Melo, M. A. A., Giacomini, R., et al. (2014). Single event effects studies on 3N163 MOSFET. In SBF. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf
NLM
Aguiar VÂP de, Seixas Jr LE, Silveira MAG, Santos RB, Melo MAA, Giacomini R, Leite FG, Cunha FG, Oliveira JA, Rallo A, Macchione ELA, Aguirre FR, Medina NH, Added N. Single event effects studies on 3N163 MOSFET [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 nov. 07 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf
Vancouver
Aguiar VÂP de, Seixas Jr LE, Silveira MAG, Santos RB, Melo MAA, Giacomini R, Leite FG, Cunha FG, Oliveira JA, Rallo A, Macchione ELA, Aguirre FR, Medina NH, Added N. Single event effects studies on 3N163 MOSFET [Internet]. SBF. 2014 ;[citado 2024 nov. 07 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvii/sys/resumos/R0100-1.pdf

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