Medida da resistividade elétrica de filmes finos nanoestruturados de platina e ouro (2004)
Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro Nacional de Fisica da Matéria Condensada. Unidade: IF
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
FARIAS, R. J. C et al. Medida da resistividade elétrica de filmes finos nanoestruturados de platina e ouro. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0657-1.pdf. Acesso em: 03 out. 2024.APA
Farias, R. J. C., Vaz, A. R. a, Salvadori, M. C. B. da S., & Cattani, M. S. D. (2004). Medida da resistividade elétrica de filmes finos nanoestruturados de platina e ouro. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0657-1.pdfNLM
Farias RJC, Vaz AR a, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Medida da resistividade elétrica de filmes finos nanoestruturados de platina e ouro [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 out. 03 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0657-1.pdfVancouver
Farias RJC, Vaz AR a, Salvadori MCB da S, Cattani MSD. Medida da resistividade elétrica de filmes finos nanoestruturados de platina e ouro [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 out. 03 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R0657-1.pdf