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Trabalho de evento-resumo
Two-photon coefficient measurements of GaN film (2016)
Dipold, J.; Martins, R. J.; Fuendling, S.; Voss, T.; Waag, A.; Mendonça, Cleber Renato
Source: Resumos. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA NÃO LINEAR, FOTÔNICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
DIPOLD, J. et al. Two-photon coefficient measurements of GaN film. 2016, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0787-2.pdf. Acesso em: 11 jun. 2024.
APA
Dipold, J., Martins, R. J., Fuendling, S., Voss, T., Waag, A., & Mendonça, C. R. (2016). Two-photon coefficient measurements of GaN film. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física - SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0787-2.pdf
NLM
Dipold J, Martins RJ, Fuendling S, Voss T, Waag A, Mendonça CR. Two-photon coefficient measurements of GaN film [Internet]. Resumos. 2016 ;[citado 2024 jun. 11 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0787-2.pdf
Vancouver
Dipold J, Martins RJ, Fuendling S, Voss T, Waag A, Mendonça CR. Two-photon coefficient measurements of GaN film [Internet]. Resumos. 2016 ;[citado 2024 jun. 11 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0787-2.pdf
Trabalho de evento-resumo
Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool (2016)
Rodrigues, Cleber Lima; Rizzutto, Marcia de Almeida; Silva, Tiago Fiorini da; Mayer, B M; Added, Nemitala; Rizzutto, Marcia de Almeida; Tabacniks, Manfredo Harri
Source: Posters - Resumo. Conference titles: Encontro de Física. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, INSTRUMENTAÇÃO (FÍSICA), ANÁLISE DE DADOS, SOFTWARES, DETETORES, FEIXES, ESPALHAMENTO
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ABNT
RODRIGUES, Cleber Lima et al. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf. Acesso em: 11 jun. 2024.
APA
Rodrigues, C. L., Rizzutto, M. de A., Silva, T. F. da, Mayer, B. M., Added, N., Rizzutto, M. de A., & Tabacniks, M. H. (2016). Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool. In Posters - Resumo. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
NLM
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 jun. 11 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf
Vancouver
Rodrigues CL, Rizzutto M de A, Silva TF da, Mayer BM, Added N, Rizzutto M de A, Tabacniks MH. Elemental thin film depth profiles by using self-consistent ion beam analysis – MultiSIMNRA: a new computational tool [Internet]. Posters - Resumo. 2016 ;[citado 2024 jun. 11 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R1935-1.pdf

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