Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman (2017)
Source: Resumos. Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica e Tecnológica da USP - SIICUSP. Unidade: EP
Subjects: FILMES FINOS, NITRATOS, TITÂNIO
ABNT
FRANCISCO, Gabriella Christe. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman. 2017, Anais.. Sao Paulo: Usp, 2017. Disponível em: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210. Acesso em: 29 ago. 2024.APA
Francisco, G. C. (2017). Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman. In Resumos. Sao Paulo: Usp. Recuperado de https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210NLM
Francisco GC. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 ago. 29 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210Vancouver
Francisco GC. Análise de tensões residuais em filmes finos por meio da espectroscopia Raman [Internet]. Resumos. 2017 ;[citado 2024 ago. 29 ] Available from: https://uspdigital.usp.br/siicusp/siicPublicacao.jsp?codmnu=7210