Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
MORAIS, E A et al. Caracterização óptica e estrutural de filmes GaAs e GaAs:Er crescidos pelo método de evaporação resistiva. 2000, Anais.. São Pedro: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo, 2000. . Acesso em: 25 maio 2024.APA
Morais, E. A., Ruggiero, L. de O., Siu Li, M., & Scalvi, L. V. de A. (2000). Caracterização óptica e estrutural de filmes GaAs e GaAs:Er crescidos pelo método de evaporação resistiva. In . São Pedro: Instituto de Física de São Carlos, Universidade de São Paulo.NLM
Morais EA, Ruggiero L de O, Siu Li M, Scalvi LV de A. Caracterização óptica e estrutural de filmes GaAs e GaAs:Er crescidos pelo método de evaporação resistiva. 2000 ;[citado 2024 maio 25 ]Vancouver
Morais EA, Ruggiero L de O, Siu Li M, Scalvi LV de A. Caracterização óptica e estrutural de filmes GaAs e GaAs:Er crescidos pelo método de evaporação resistiva. 2000 ;[citado 2024 maio 25 ]
