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USP affiliated authors
- balogh, debora terezia (~1)
- faria, roberto mendonca (~1)
- mascarenhas, yvonne primerano (~1)
- oliveira junior, osvaldo novais de (~1)
Date published
- 2008 (~1)
- 2007 (~1)
Subjects
- filmes finos (2)
- espectroscopia (1)
- microscopia (1)
- nanotecnologia (1)
- polímeros (materiais) (1)

Artigo de periodico
TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands (2008)
Leite, Fábio L.; Alves, William F.; Mir, Mirta; Mascarenhas, Yvonne Primerano; Herrmann, Paulo S. P.; Mattoso, Luiz H. C.; Oliveira Junior, Osvaldo Novais de
Source: Applied Physics A. Unidade: IFSC
Subjects: FILMES FINOS, POLÍMEROS (MATERIAIS), NANOTECNOLOGIA, MICROSCOPIA, RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
LEITE, Fábio L. et al. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands. Applied Physics A, v. No 2008, n. 2, p. 537-542, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9. Acesso em: 30 maio 2024.
APA
Leite, F. L., Alves, W. F., Mir, M., Mascarenhas, Y. P., Herrmann, P. S. P., Mattoso, L. H. C., & Oliveira Junior, O. N. de. (2008). TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands. Applied Physics A, No 2008( 2), 537-542. doi:10.1007/s00339-008-4686-9
NLM
Leite FL, Alves WF, Mir M, Mascarenhas YP, Herrmann PSP, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands [Internet]. Applied Physics A. 2008 ; No 2008( 2): 537-542.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9
Vancouver
Leite FL, Alves WF, Mir M, Mascarenhas YP, Herrmann PSP, Mattoso LHC, Oliveira Junior ON de. TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands [Internet]. Applied Physics A. 2008 ; No 2008( 2): 537-542.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-008-4686-9
Artigo de periodico
Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies (2007)
Albuquerque, J. E.; Balogh, Débora Terezia; Faria, Roberto Mendonça
Source: Applied Physics A. Unidade: IFSC
Subjects: ÓPTICA, ESPECTROSCOPIA, FILMES FINOS
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
ALBUQUERQUE, J. E. e BALOGH, Débora Terezia e FARIA, Roberto Mendonça. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A, v. 86, n. 3, p. 395-401, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1007/s00339-006-3789-4. Acesso em: 30 maio 2024.
APA
Albuquerque, J. E., Balogh, D. T., & Faria, R. M. (2007). Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies. Applied Physics A, 86( 3), 395-401. doi:10.1007/s00339-006-3789-4
NLM
Albuquerque JE, Balogh DT, Faria RM. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies [Internet]. Applied Physics A. 2007 ; 86( 3): 395-401.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-006-3789-4
Vancouver
Albuquerque JE, Balogh DT, Faria RM. Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies [Internet]. Applied Physics A. 2007 ; 86( 3): 395-401.[citado 2024 maio 30 ] Available from: https://doi.org/10.1007/s00339-006-3789-4

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